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参数资料
| 型号： | IDT709149S8PF |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 4/10页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SRAM 36KBIT 8NS 80TQFP |
| 标准包装： | 6 |
| 格式 - 存储器： | RAM |
| 存储器类型： | SRAM - 双端口，同步 |
| 存储容量： | 36K（4K x 9） |
| 速度： | 8ns |
| 接口： | 并联 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 封装/外壳： | 80-LQFP |
| 供应商设备封装： | 80-TQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | 709149S8PF |
IDT709149S
High-Speed 36K (4K x 9-bit) Synchronous Pipelined Dual-Port Static RAM
Industrial and Commercial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics Over the Operating
Temperature and Supply Voltage Range (4) (V CC = 5V ± 10%)
709149S8
Com'l Only
709149S10
Com'l
& Ind
709149S12
Com'l Only
Symbol
I CC
I SB1
Parameter
Dynamic Operating
Current
(Both Ports Active)
Standby Current
(Both Ports - TTL
Level Inputs)
Test Condition
CE L and CE R = V IL ,
Outputs Disabled
f = f MAX (1)
CE L and CE R = V IH
f = f MAX (1)
Version
COM'L
IND
COM'L
IND
Typ.
200
____
100
____
Max.
320
____
150
____
Typ.
190
190
90
90
Max.
310
340
150
175
Typ.
180
____
85
____
Max.
300
____
140
____
Unit
mA
mA
I SB2
Standby Current
CE "A" = V IL and CE "B" = V IH
(3)
COM'L
180
230
170
220
160
210
mA
(One Port - TTL
Level Inputs)
Active Port Outputs Disabled,
f=f MAX (1)
IND
____
____
170
250
____
____
I SB3
I SB4
Full Standby Current
(Both Ports - All
CMOS Level Inputs)
Full Standby Current
(One Port - All
CMOS Level Inputs)
CE L and
CE R > V CC - 0.2V,
V IN > V CC - 0.2V or
V IN < 0.2V, f = 0 (2)
CE "A" < 0.2V and
CE "B" > V CC - 0.2V (3)
V IN > V CC - 0.2V or V IN < 0.2V
COM'L
IND
COM'L
IND
5
____
170
____
15
____
220
____
5
5
160
160
15
20
210
240
5
____
150
____
15
____
200
____
mA
mA
Active Port Outputs Disabled,
f = f MAX (1)
NOTES:
3494 tbl 06
1. At f = f MAX , address and control lines (except Output Enable) are cycling at the maximum frequency clock cycle of 1/t CLK , using "AC TEST CONDITIONS" at input levels of
GND to 3V.
2. f = 0 means no address, clock, or control lines change. Applies only to input at CMOS level standby.
3. Port "A" may be either left or right port. Port "B" is the opposite from port "A".
4. Vcc = 5V, T A = 25°C for Typ, and are not production tested. I CC DC = 150mA (Typ).
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
GND to 3.0V
3ns Max.
1.5V
1.5V
Output Load
Figures 1,2 and 3
3494 tbl 07
8
7
9pF is the I/O capacitance
of this device, and 30pF is the
AC Test Load Capacitance
6
DATA OUT
5V
893 ?
DATA OUT
5V
893 ?
? tCD
(Typical, ns)
5
4
3
2
347 ?
30pF
347 ?
5pF*
1
0
20 40 60 80 100 120 140 160 180 200
,
3494 drw 03
Figure 1. AC Output Test load.
3494 drw 04
Figure 2. Output Test Load
,
-1
Capacitance (pF)
3494 drw 05
(For t CKLZ , t CKHZ , t OLZ , and t OHZ ).
*Including scope and jig.
6.42
Figure 3. Typical Output Derating (Lumped Capacitive Load).
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