参数资料
型号: IDT71256SA15YI
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 3/8页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 256KBIT 15NS 28SOJ
产品变化通告: Product Discontinuation 29/Apr/2010
标准包装: 27
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 异步
存储容量: 256K (32K x 8)
速度: 15ns
接口: 并联
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 28-BSOJ
供应商设备封装: 28-SOJ
包装: 管件
其它名称: 71256SA15YI
IDT71256SA
CMOS Static RAM 256K (32K x 8-Bit)
Commercial and Industrial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics
(V CC = 5.0V ± 10%)
IDT71256SA
Symbol
|I LI |
|I LO |
V OL
V OH
Parameter
Input Leakage Current
Output Leakage Current
Output Low Voltage
Output High Voltage
Test Conditions
V CC = Max., V IN = GND to V CC
V CC = Max., CS = V IH , V OUT = GND to V CC
I OL = 8mA, V CC = Min.
I OH = -4mA, V CC = Min.
Min.
___
___
___
2.4
Max.
5
5
0.4
___
Unit
μA
μA
V
V
2948 tbl 05
DC Electrical Characteristics (1)
(V CC = 5.0V ± 10%, V LC = 0.2V, V HC = V CC –0.2V)
Symbol
I CC
I SB
I SB1
Parameter
Dynamic Operating Current
CS < V IL , Outputs Open, V CC = Max., f = f MAX (2)
Standby Power Supply Current (TTL Level)
CS > V IH , Outputs Open, V CC = Max., f = f MAX (2)
Standby Power Supply Current (CMOS Level)
CS > V HC , Outputs Open, V CC = Max., f = 0 (2) ,
V IN < V LC or V IN > V HC
71256SA12
160
50
15
71256SA15
150
40
15
71256SA20
145
40
15
71256SA25
145
40
15
Unit
mA
mA
mA
NOTES:
1. All values are maximum guaranteed values.
2. f MAX = 1/t RC (all address inputs are cycling at f MAX ); f = 0 means no address input lines are changing.
2948 tbl 06
AC Test Conditions
Input Pulse Levels
Input Rise/Fall Times
GND to 3.0V
3ns
Capacitance
(T A = +25°C, f = 1.0MHz, SOJ package)
Symbol Parameter (1) Conditions Max.
Unit
Input Timing Reference Levels
Output Reference Levels
1.5V
1.5V
C IN
C I/O
Input Capacitance
I/O Capacitance
V IN = 3dV
V OUT = 3dV
7
7
pF
pF
AC Test Load
See Figures 1 and 2
NOTE:
2948 tbl 08
DATA OUT
5V
480 Ω
2948 tbl 07
1. This parameter is guaranteed by device characterization, but not production
tested.
5V
480 Ω
DATA OUT
30pF*
255 Ω
2948 drw 03
,
5pF*
255 Ω
2948 drw 04
.
Figure 1. AC Test Load
*Including jig and scope capacitance.
3
6.42
Figure 2. AC Test Load
(for t CLZ , t OLZ , t CHZ , t OHZ , t OW, and t WHZ )
相关PDF资料
PDF描述
RBB05DHNN CONN EDGECARD 10POS DIP .050 SLD
V28A24C200BF2 CONVERTER MOD DC/DC 24V 200W
KA78RH33RTF IC REG LDO 3.3V .8A DPAK
TAJC106M020RNJ CAP TANT 10UF 20V 20% 2312
V28A15C200BF2 CONVERTER MOD DC/DC 15V 200W
相关代理商/技术参数
参数描述
IDT71256SA15YI8 功能描述:IC SRAM 256KBIT 15NS 28SOJ RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 产品变化通告:Product Discontinuation 26/Apr/2010 标准包装:136 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 同步,DDR II 存储容量:18M(1M x 18) 速度:200MHz 接口:并联 电源电压:1.7 V ~ 1.9 V 工作温度:0°C ~ 70°C 封装/外壳:165-TBGA 供应商设备封装:165-CABGA(13x15) 包装:托盘 其它名称:71P71804S200BQ
IDT71256SA20PZ 功能描述:IC SRAM 256KBIT 20NS 28TSOP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 产品变化通告:Product Discontinuation 26/Apr/2010 标准包装:136 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 同步,DDR II 存储容量:18M(1M x 18) 速度:200MHz 接口:并联 电源电压:1.7 V ~ 1.9 V 工作温度:0°C ~ 70°C 封装/外壳:165-TBGA 供应商设备封装:165-CABGA(13x15) 包装:托盘 其它名称:71P71804S200BQ
IDT71256SA20PZ8 功能描述:IC SRAM 256KBIT 20NS 28TSOP RoHS:否 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 产品变化通告:Product Discontinuation 26/Apr/2010 标准包装:136 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 同步,DDR II 存储容量:18M(1M x 18) 速度:200MHz 接口:并联 电源电压:1.7 V ~ 1.9 V 工作温度:0°C ~ 70°C 封装/外壳:165-TBGA 供应商设备封装:165-CABGA(13x15) 包装:托盘 其它名称:71P71804S200BQ
IDT71256SA20PZG 功能描述:IC SRAM 256KBIT 20NS 28TSOP RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 标准包装:72 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 同步 存储容量:4.5M(256K x 18) 速度:133MHz 接口:并联 电源电压:3.135 V ~ 3.465 V 工作温度:0°C ~ 70°C 封装/外壳:100-LQFP 供应商设备封装:100-TQFP(14x20) 包装:托盘
IDT71256SA20PZG8 功能描述:IC SRAM 256KBIT 20NS 28TSOP RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 存储器 系列:- 标准包装:72 系列:- 格式 - 存储器:RAM 存储器类型:SRAM - 同步 存储容量:4.5M(256K x 18) 速度:133MHz 接口:并联 电源电压:3.135 V ~ 3.465 V 工作温度:0°C ~ 70°C 封装/外壳:100-LQFP 供应商设备封装:100-TQFP(14x20) 包装:托盘