参数资料
型号: IDT7142SA55P
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 5/16页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 16KBIT 55NS 48DIP
标准包装: 7
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 双端口,异步
存储容量: 16K (2K x 8)
速度: 55ns
接口: 并联
电源电压: 4.5 V ~ 5.5 V
工作温度: 0°C ~ 70°C
封装/外壳: 48-DIP(0.600",15.24mm)
供应商设备封装: 48-PDIP
包装: 管件
其它名称: 7142SA55P
IDT7132SA/LA and IDT 7142SA/LA
High Speed 2K x 8 Dual Port Static RAM
Military, Industrial and Commercial Temperature Ranges
DC Electrical Characteristics Over the Operating
Temperature Supply Voltage Range (V CC = 5.0V ± 10%)
7132SA
7142SA
7132LA
7142LA
Input Leakage Current
Symbol
|I LI |
Parameter
(1)
V CC = 5.5V,
Test Conditions
Min.
___
Max.
10
Min.
___
Max.
5
Unit
μA
V IN = 0V to V CC
|I LO |
V OL
V OL
V OH
Output Leakage Current
Output Low Voltage
Open Drain Output
Low Voltage ( BUSY )
Output High Voltage
V CC = 5.5V,
CE = V IH , V OUT = 0V to V CC
I OL = 4mA
I OL = 16mA
I OH = -4mA
___
___
___
2.4
10
0.4
0.5
___
___
___
___
2.4
5
0.4
0.5
___
μA
V
V
V
2692 tbl 05
NOTE:
1. At Vcc < 2.0V leakages are undefined.
Data Retention Characteristics (LA Version Only)
Symbol
V DR
Parameter
V CC for Data Retention
V CC = 2.0V
Test Condition
Min.
2.0
Typ. (1)
___
Max.
___
Unit
V
I CCDR
t CDR (3)
t R (3)
Data Retention Current
Chip Deselect to Data Retention Time
Operation Recovery Time
CE > V CC -0.2V
V IN > V CC -0.2V or
V IN < 0.2V
Mil. & Ind.
Com'l.
___
___
0
t RC (2)
100
100
___
___
4000
1500
___
___
μA
μA
ns
ns
NOTES:
1. V CC = 2V, T A = +25°C, and is not production tested.
2. t RC = Read Cycle Time
3. This parameter is guaranteed but not production tested.
Data Retention Waveform
DATA RETENTION MODE
2692 tbl 06
V CC
4.5V
V DR ≥ 2.0V
4.5V
CE
t CDR
V DR
t R
V IH
5
6.42
V IH
2692 drw 05
,
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PDF描述
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IDT7143LA20JG8 制造商:Integrated Device Technology Inc 功能描述:IC SRAM 32KBIT 20NS 68PLCC