参数资料
型号: IDT71V65803S100BGG8
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 19/26页
文件大小: 0K
描述: IC SRAM 9MBIT 100MHZ 119BGA
标准包装: 1,000
格式 - 存储器: RAM
存储器类型: SRAM - 同步 ZBT
存储容量: 9M(512K x 18)
速度: 100MHz
接口: 并联
电源电压: 3.135 V ~ 3.465 V
工作温度: 0°C ~ 70°C
封装/外壳: 119-BGA
供应商设备封装: 119-PBGA(14x22)
包装: 带卷 (TR)
其它名称: 71V65803S100BGG8
t CYC
CLK
CEN
ADV/ LD
R/ W
t SADV
t SE
t SW
t SA
t HE
t HW
t HA
t CH
t HADV
t CL
ADDRESS
A 1
A 2
A 3
A 4
A 5
A 6
A 7
A 8
A 9
t SC
t HC
CE 1 , CE 2(2)
t SB
t HB
BW 1 - BW 4
OE
t SD t HD
DATA IN
Write
D(A 2 )
Write
D(A 4 )
D(A 5 )
t CD
t CHZ
t CLZ
t CDC
DATA OUT
Read
Q(A 1 )
Read
Q(A 3 )
Read
Q(A 6 )
Q(A 7 )
5304 drw 08
NOTES:
1. Q (A 1 ) represents the first output from the external address A 1 . D (A 2 ) represents the input data to the SRAM corresponding to address A 2 .
2. CE 2 timing transitions are identical but inverted to the CE 1 and CE 2 signals. For example, when CE 1 and CE 2 are LOW on this waveform, CE 2 is HIGH.
3. Individual Byte Write signals ( BW x) must be valid on all write and burst-write cycles. A write cycle is initiated when R/ W signal is sampled LOW. The byte write information comes in two
cycles before the actual data is presented to the SRAM.
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