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参数资料
| 型号： | IDT72T3695L5BB |
| 厂商： | IDT, Integrated Device Technology Inc |
| 文件页数： | 6/57页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FIFO 32768X36 5NS 208BGA |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | 72T |
| 功能： | 异步，同步 |
| 存储容量： | 1.1M（32K x 36） |
| 数据速率： | 83MHz |
| 访问时间： | 5ns |
| 电源电压： | 2.375 V ~ 2.625 V |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 208-BGA |
| 供应商设备封装： | 208-PBGA（17x17） |
| 包装： | 托盘 |
| 其它名称： | 72T3695L5BB |
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14
COMMERCIAL AND INDUSTRIAL
TEMPERATURE RANGES
IDT72T3645/55/65/75/85/95/105/115/125 2.5V TeraSync
36-BIT FIFO
1K x 36, 2K x 36, 4K x 36, 8K x 36, 16K x 36, 32K x 36, 64K x 36, 128K x 36 and 256K x 36
FEBRUARY 4, 2009
Input Pulse Levels
0.25 to 1.25V
Input Rise/Fall Times
0.4ns
Input Timing Reference Levels
0.75
OutputReferenceLevels
VDDQ/2
HSTL
1.5V AC TEST CONDITIONS
Figure 2b. Lumped Capacitive Load, Typical Derating
AC TEST LOADS
Figure 2a. AC Test Load
Input Pulse Levels
0.4 to 1.4V
Input Rise/Fall Times
0.4ns
Input Timing Reference Levels
0.9
OutputReferenceLevels
VDDQ/2
EXTENDEDHSTL
1.8V AC TEST CONDITIONS
Input Pulse Levels
GND to 2.5V
Input Rise/Fall Times
1ns
Input Timing Reference Levels
VCC/2
OutputReferenceLevels
VDDQ/2
2.5V LVTTL
2.5V AC TEST CONDITIONS
5907 drw04
50
VDDQ/2
I/O
Z0 = 50
5907 drw04a
6
5
4
3
2
1
20 30 50
80 100
200
Capacitance (pF)
tCD
(Typical,
ns)
NOTE:
1. VDDQ = 1.5V±.
NOTE:
1. VDDQ = 1.8V±.
NOTE:
1. For LVTTL VCC = VDDQ.
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参数描述 |
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