参数资料
型号: IDT74ALVCH32374BF
厂商: IDT, Integrated Device Technology Inc
文件页数: 6/7页
文件大小: 0K
描述: IC FLIP FLOP 32BIT D 3ST 96LFBGA
标准包装: 270
系列: 74ALVCH
功能: 设置(预设)和复位
类型: D 型总线
输出类型: 三态非反相
元件数: 2
每个元件的位元数: 16
频率 - 时钟: 150MHz
延迟时间 - 传输: 1ns
触发器类型: 正边沿
输出电流高,低: 24mA,24mA
电源电压: 2.7 V ~ 3.6 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 96-LFBGA
包装: 托盘
其它名称: 74ALVCH32374BF
INDUSTRIALTEMPERATURERANGE
6
IDT74ALVCH32374
3.3VCMOS32-BITEDGE-TRIGGEREDD-TYPEFLIP-FLOP
Open
VLOAD
GND
VCC
Pulse
Generator
D.U.T.
500
Ω
500
Ω
CL
RT
VIN
VOUT
(1, 2)
ALVC Link
INPUT
VIH
0V
VOH
VOL
tPLH1
tSK (x)
OUTPUT 1
OUTPUT 2
tPHL1
tSK (x)
tPLH2
tPHL2
VT
VOH
VT
VOL
tSK(x) = tPLH2 - tPLH1 or tPHL2 - tPHL1
ALVC Link
SAME PHASE
INPUT TRANSITION
OPPOSITE PHASE
INPUT TRANSITION
0V
VOH
VOL
tPLH
tPHL
tPLH
OUTPUT
VIH
VT
VIH
VT
ALVC Link
DATA
INPUT
0V
tREM
TIMING
INPUT
SYNCHRONOUS
CONTROL
tSU
tH
tSU
tH
VIH
VT
VIH
VT
VIH
VT
VIH
VT
ALVC Link
ASYNCHRONOUS
CONTROL
LOW-HIGH-LOW
PULSE
HIGH-LOW-HIGH
PULSE
VT
tW
VT
ALVC Link
CONTROL
INPUT
tPLZ
0V
OUTPUT
NORMALLY
LOW
tPZH
0V
SWITCH
CLOSED
OUTPUT
NORMALLY
HIGH
ENABLE
DISABLE
SWITCH
OPEN
tPHZ
0V
VLZ
VOH
V
T
VT
tPZL
VLOAD/2
VIH
VT
VOL
VHZ
ALVC Link
TEST CIRCUITS AND WAVEFORMS
Propagation Delay
Test Circuit for All Outputs
Enable and Disable Times
Set-up, Hold, and Release Times
NOTES:
1.
For tSK(o) OUTPUT1 and OUTPUT2 are any two outputs.
2.
For tSK(b) OUTPUT1 and OUTPUT2 are in the same bank.
DEFINITIONS:
CL = Load capacitance: includes jig and probe capacitance.
RT = Termination resistance: should be equal to ZOUT of the Pulse Generator.
NOTES:
1. Pulse Generator for All Pulses: Rate
≤ 1.0MHz; tF ≤ 2.5ns; tR ≤ 2.5ns.
2. Pulse Generator for All Pulses: Rate
≤ 1.0MHz; tF ≤ 2ns; tR ≤ 2ns.
Output Skew - tSK(X)
Pulse Width
NOTE:
1. Diagram shown for input Control Enable-LOW and input Control Disable-HIGH.
Symbol
VCC
(1)= 3.3V±0.3V VCC(1)=2.7V
VCC
(2)= 2.5V±0.2V
Unit
VLOAD
6
2 x Vcc
V
VIH
2.7
Vcc
V
VT
1.5
Vcc / 2
V
VLZ
300
150
mV
VHZ
300
150
mV
CL
50
30
pF
TEST CONDITIONS
SWITCH POSITION
Test
Switch
Open Drain
Disable Low
VLOAD
Enable Low
Disable High
GND
Enable High
All Other Tests
Open
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