参数资料
型号: IRLR4343TRRPBF
厂商: International Rectifier
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文件大小: 0K
描述: MOSFET N-CH 55V 26A DPAK
标准包装: 3,000
系列: HEXFET®
FET 型: MOSFET N 通道,金属氧化物
FET 特点: 逻辑电平门
漏极至源极电压(Vdss): 55V
电流 - 连续漏极(Id) @ 25° C: 26A
开态Rds(最大)@ Id, Vgs @ 25° C: 50 毫欧 @ 4.7A,10V
Id 时的 Vgs(th)(最大): 1V @ 250µA
闸电荷(Qg) @ Vgs: 42nC @ 10V
输入电容 (Ciss) @ Vds: 740pF @ 50V
功率 - 最大: 79W
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: TO-252-3,DPak(2 引线+接片),SC-63
供应商设备封装: D-Pak
包装: 带卷 (TR)
IRLR/U4343PbF & IRLU4343-701PbF
D.U.T
+
Driver Gate Drive
P.W.
Period
D=
P.W.
Period
+
?
-
Circuit Layout Considerations
? Low Stray Inductance
? Ground Plane
? Low Leakage Inductance
Current Transformer
D.U.T. I SD Waveform
V GS =10V *
?
-
-
?
+
Reverse
Recovery
Current
Body Diode Forward
Current
di/dt
D.U.T. V DS Waveform
?
R G
?
?
?
?
dv/dt controlled by R G
Driver same type as D.U.T.
I SD controlled by Duty Factor "D"
D.U.T. - Device Under Test
V DD
+
-
Re-Applied
Voltage
Curent
Inductor Inductor
Current
Diode Recovery
dv/dt
Body Diode Forward Drop
V DD
Ripple  ≤  5%
* V GS = 5V for Logic Level Devices
Fig 16. Peak Diode Recovery dv/dt Test Circuit for N-Channel
HEXFET ? Power MOSFETs
15V
V DS
L D
I SD
VDS
L
DRIVER
+
V DD -
RG
GS
20V
tp
D.U.T
IAS
0.01 ?
+
-
VDD
A
V GS
Pulse Width < 1μs
D.U.T
Duty Factor < 0.1%
Fig 17a. Unclamped Inductive Test Circuit
tp
V (BR)DSS
Fig 18a. Switching Time Test Circuit
V DS
90%
10%
V GS
I AS
t d(on)
t r
t d(off)
t f
Fig 17b. Unclamped Inductive Waveforms
Fig 18b. Switching Time Waveforms
Id
Vds
Vgs
L
VCC
0
1K
DUT
Vgs(th)
Qgs1 Qgs2
Qgd
Qgodr
6
Fig 19a. Gate Charge Test Circuit
Fig 19b Gate Charge Waveform
www.irf.com
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