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参数资料
| 型号： | ISL43840IRZ |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 13/14页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MUX/DEMUX DUAL 4X1 20QFN |
| 标准包装： | 75 |
| 功能： | 多路复用器/多路分解器 |
| 电路： | 2 x 4:1 |
| 导通状态电阻： | 45 欧姆 |
| 电压电源： | 单/双电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 2 V ~ 12 V，±2 V ~ 6 V |
| 电流 - 电源： | 1µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-VFQFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 20-QFN 裸露焊盘（4x4） |
| 包装： | 管件 |
| 产品目录页面： | 1246 (CN2011-ZH PDF) |
8
FN6056.2
March 13, 2006
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite
logic sense.
FIGURE 1A. ENABLE tON / tOFF MEASUREMENT POINTS
Repeat test for other switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1B. ENABLE tON / tOFF TEST CIRCUIT
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite
logic sense.
FIGURE 1C. ADDRESS tTRANS MEASUREMENT POINTS
Repeat test for other switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1D. ADDRESS tTRANS TEST CIRCUIT
FIGURE 1. SWITCHING TIMES
FIGURE 2A. Q MEASUREMENT POINTS
FIGURE 2B. Q TEST CIRCUIT
FIGURE 2. CHARGE INJECTION
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tON
3V
0V
tOFF
LOGIC
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
0V
90%
VOUT
VNO0
VOUT
V(NO)
RL
RL R ON
()
+
------------------------------
=
LOGIC
INPUT
VOUT
RL
COM
NO0
ENABLE
300
35pF
GND
V-
C
NO1-NO3
CL
V+
ADD1, 2
C
V+
C
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tTRANS
90%
3V
VNOX
0V
tTRANS
LOGIC
INPUT
SWITCH
OUTPUT
10%
VOUT
0V
VNO0
VOUT
V(NO)
RL
RL R ON
()
+
------------------------------
=
LOGIC
INPUT
VOUT
RL
COM
NO0
ADD1, 2
300
35pF
GND
NO1-NO2
CL
V+
ENABLE
C
V-
C
V+
C
NO3
V-
C
VOUT
OFF
ON
OFF
Q =
VOUT x CL
SWITCH
OUTPUT
LOGIC
INPUT
3V
0V
CL
VOUT
RG
VG
GND
COMX
NOX
LOGIC
INPUT
ENABLE
ADDX
V-
C
V+
C
Repeat test for other switches.
1nF
0
ISL43840
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