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参数资料
| 型号： | ISL54200EVAL1Z |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 17/18页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | EVALUATION BOARD FOR ISL54200 |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 接口，2:1 多路复用器 |
| 嵌入式： | 否 |
| 已用 IC / 零件： | ISL54200 |
| 主要属性： | 2 x SPDT 模拟开关 |
| 次要属性： | 2.7 V ~ 5.5 V 电源 |
| 已供物品： | 板 |
ISL54200
8
FN6408.2
June 17, 2010
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 7B. TEST CIRCUIT
FIGURE 7. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
HSx or FSx
COMx
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
VINL OR
EN
VINH
Repeat test for all switches.
ANALYZER
VDD
C
HSx
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN
COMx
45Ω
NC
COMx
FSx
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
EN
VIN
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COMD1
D2
GND
VDD
C
D1
COMD2
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro-tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output
|tfo-tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signa
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
15.8Ω
143Ω
45Ω
VIN
EN
Signals.
ISL54200
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| ABC05DRYI | CONN EDGECARD 10POS .100 DIP SLD |
| 2-6374658-6 | C/A LC TO LC MM 2.0MM |
| VE-BWP-EY-S | CONVERTER MOD DC/DC 13.8V 50W |
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| VE-BWN-EY-S | CONVERTER MOD DC/DC 18.5V 50W |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| ISL54200IRZ-T | 功能描述:IC USB SWITCH DUAL SPDT 10TDFN RoHS:是 类别:集成电路 (IC) >> 接口 - 模拟开关，多路复用器，多路分解器 系列:- 产品培训模块:Lead (SnPb) Finish for COTS Obsolescence Mitigation Program 标准包装:36 系列:- 功能:多路复用器 电路:2 x 4:1 导通状态电阻:75 欧姆 电压电源:单/双电源 电压 - 电源，单路/双路(±):2 V ~ 12 V，±2 V ~ 6 V 电流 - 电源:- 工作温度:0°C ~ 70°C 安装类型:表面贴装 封装/外壳:20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） 供应商设备封装:20-SOIC W 包装:管件 |
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