参数资料
| 型号： | ISL54211IRTZ-T |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 17/19页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SWITCH DUAL SPDT HS 10-TDFN |
| 标准包装： | 6,000 |
| 功能： | 开关 |
| 电路： | 2 x SPDT |
| 导通状态电阻： | 35 欧姆 |
| 电压电源： | 单电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 2.7 V ~ 5 V |
| 电流 - 电源： | 7µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 10-VFDFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 10-TDFN/MLP（3x3） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
7
FN6662.1
August 25, 2008
FIGURE 4. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 5. AUDIO CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 6A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 6B. TEST CIRCUIT
FIGURE 6. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
AUDIO OR USB
COMx
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
VINL OR
Repeat test for all switches.
CTRL
VINH
0V OR FLOAT
ANALYZER
VDD
C
L OR R
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN
COMx
32
Ω
NC
COMx
R OR L
Repeat test for all switches.
CTRL
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
CL
COM-
D+
GND
VDD
C
D-
COM+
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output Signals.
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output Signals.
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signals.
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
15.8
Ω
15.8
Ω
143
Ω
143
Ω
45
Ω
45
Ω
CTRL
IN
VINH
ISL54211
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