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参数资料
| 型号： | ISL54226IRTZ-T |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 14/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC USB SWITCH DPST OVP 8TDFN |
| 标准包装： | 1,000 |
| 功能： | 开关 |
| 电路： | 2 x SPST |
| 导通状态电阻： | 17 欧姆 |
| 电压电源： | 单电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 2.7 V ~ 5.25 V |
| 电流 - 电源： | 45µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 8-WFDFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 8-TDFN（2x2） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
ISL54226
6
FN7614.1
September 12, 2013
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite
logic sense.
FIGURE 3A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 3B. TEST CIRCUIT
FIGURE 3. SWITCHING TIMES
FIGURE 4. rON TEST CIRCUIT
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. CROSSTALK TEST CIRCUIT
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tOFF
90%
VDD
0V
VINPUT
0V
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
V
OUT
V
(INPUT)
R
L
R
L
r
ON
+
------------------------
=
SWITCH
INPUT
VIN
VOUT
RL
CL
Dx
COMx
50
50pF
GND
VDD
C
OE/ALM
VINPUT
VDD
C
VDD
COMx
Dx
GND
VHSDX
V1
rON = V1/17mA
17mA
Repeat test for all switches.
OE/ALM
VDD
C
GND
COMx
Dx
IMPEDANCE
ANALYZER
0V OR
Repeat test for all switches.
OE/ALM
VDD
ANALYZER
VDD
C
COM+
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
D+
50
NC
D-
COM-
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
OE/ALM
VIN
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参数描述 |
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