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参数资料
| 型号： | ISL54230EVAL3Z |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 17/18页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | EVALUATION BOARD ISL54230 |
| 标准包装： | 1 |
| 主要目的： | 接口，模拟和数字式开关 |
| 嵌入式： | 否 |
| 已用 IC / 零件： | ISL54230 |
| 主要属性： | 4 x DPDT 模拟和 USB 开关 |
| 次要属性： | 2 V ~ 5.5 V 电源 |
| 已供物品： | 板 |
8
FN6825.2
May 28, 2009
Test Circuits and Waveforms
FIGURE 1. rON TEST CIRCUIT
FIGURE 2. OFF-ISOLATION TEST CIRCUIT
FIGURE 3. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 4. CROSSTALK TEST CIRCUIT
FIGURE 5. POWER OFF LEAKAGE TEST CIRCUIT
VDD
C
NOx OR NCx
COMx
INx
GND
VNO/NC
V1
rON = V1/Icom
Icom
Repeat test for all switches.
VIN
ANALYZER
RL
50
Ω SIGNAL
GENERATOR
C
0V OR V+
NO OR NC
COM
IN
GND
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded.
VDD
C
GND
NOx/NCx
COMx
INx
IMPEDANCE
ANALYZER
0V OR
VDD
COM is connected to NO or NC
during ON capacitance measurement.
ANALYZER
VDD
C
NO1/NC1
50
Ω SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
INx
COM1
50
Ω
NC
COMx
NOx/NCx
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
VIN
VDD
GND
NOx OR NCx
COMx
INx
A
5.25V
NOTE: OEx such that switch is disabled
ISL54230
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