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参数资料
| 型号： | ISL54233IRTZ-T |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 15/18页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC MULTIPLEXER |
| 标准包装： | 6,000 |
| 系列： | * |
ISL54233
6
FN7918.0
December 21, 2011
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite logic
sense.
FIGURE 3A. ADDRESS tTRANS MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 3B. ADDRESS tTRANS TEST CIRCUIT
FIGURE 3. SWITCHING TIMES
FIGURE 4A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray capacitance.
FIGURE 4B. TEST CIRCUIT
FIGURE 4. BREAK-BEFORE-MAKE TIME
FIGURE 5. rON TEST CIRCUIT
FIGURE 6. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tOFF
90%
VC0,C1
0V
VINPUT
VC0,C1
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
V
OUT
V
(INPUT)
R
L
R
L
r
ON
+
------------------------
=
SWITCH
INPUT
LOGIC
VOUT
RL
CL
COMx
C0, C1
50
Ω
10pF
GND
VDD
C
VINPUT
INPUT
90%
VC0
VC1
tD
LOGIC
INPUT
SWITCH
OUTPUT
0V
VOUT
LOGIC
C0, C1
COMx
RL
CL
VOUT
10pF
50
Ω
2D- OR 2D+
1D- OR 1D+
VDD
GND
VINPUT
C
INPUT
3D- OR 3D+
VDD
C
0V
xD- OR xD+
COMx
C0
GND
VD- OR VD+
V1
rON = V1/17mA
17mA
Repeat test for all switches.
C1
VDD
C
GND
xD- OR xD+
COMx
VCx
IMPEDANCE
ANALYZER
VCxL OR
Repeat test for all switches.
CTRL
VCxH
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