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参数资料
| 型号： | ISL54400EVAL1Z |
| 厂商： | Intersil Corporation |
| 英文描述： | Low Voltage, Dual SPDT, USB/Audio Switches with Negative Signal Capability |
| 中文描述： | 低电压，双路SPDT，USB /音频开关，负信号能力 |
| 文件页数： | 9/15页 |
| 文件大小： | 464K |
| 代理商： | ISL54400EVAL1Z |
9
FN6240.3
July 12, 2006
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. RISE/FALL TIME MISMATCH TEST
FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 7B. TEST CIRCUIT
FIGURE 7. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms
(Continued)
V
DD
C
GND
COM
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
V
BUS
or V
IN
Repeat test for all witches. COM designation in diagram
refers to:
D-/L, D+/R, COM1, and COM2.
Dx or L or R or Nx
V
CM
OUT +
OUT -
90%
90%
10%
10%
t
R
t
F
1.3V< V
CM
< 2V
t
M
= | t
R
-t
F |
min (t
R
or t
F
)
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
50%
90%
10%
10%
10%
10%
90%
90%
50%
90%
50%
t
ri
t
fi
t
ro
t
f0
t
skew_i
t
skew_o
OUT+
R
S
C
L
D-/L
D+
GND
V
DD
C
D-
D+/R
R
S
C
L
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output Signals.
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output Signals.
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signals.
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
ISL54400, ISL54401, ISL54402
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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参数描述 |
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