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参数资料
| 型号： | ISL54400IRZ-T |
| 厂商： | Intersil |
| 文件页数： | 15/15页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC USB SWITCH DUAL SPDT 10TDFN |
| 标准包装： | 6,000 |
| 功能： | USB 开关 |
| 电路： | 2 x SPDT |
| 导通状态电阻： | 6 欧姆 |
| 电压电源： | 单电源 |
| 电压 - 电源，单路/双路(±)： | 2.5 V ~ 3.6 V |
| 电流 - 电源： | 4.5µA |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 10-VFDFN 裸露焊盘 |
| 供应商设备封装： | 10-TDFN/MLP（3x3） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
9
FN6240.3
July 12, 2006
FIGURE 5. CAPACITANCE TEST CIRCUIT
FIGURE 6. RISE/FALL TIME MISMATCH TEST
FIGURE 7A. MEASUREMENT POINTS
FIGURE 7B. TEST CIRCUIT
FIGURE 7. SKEW TEST
Test Circuits and Waveforms (Continued)
VDD
C
GND
COM
IN
IMPEDANCE
ANALYZER
VBUS or VIN
Repeat test for all witches. COM designation in diagram
Dx or L or R or Nx
refers to: D-/L, D+/R, COM1, and COM2.
VCM
OUT +
OUT -
90%
10%
tR
tF
1.3V< VCM < 2V
tM = | tR -tF|
min (tR or tF)
DIN+
DIN-
OUT+
OUT-
50%
90%
10%
90%
50%
90%
50%
tri
tfi
tro
tf0
tskew_i
tskew_o
OUT+
RS
CL
D-/L
D+
GND
VDD
C
D-
D+/R
RS
CL
OUT-
DIN+
DIN-
|tro - tri| Delay Due to Switch for Rising Input and Rising Output Signals.
|tfo - tfi| Delay Due to Switch for Falling Input and Falling Output Signals.
|tskew_0| Change in Skew through the Switch for Output Signals.
|tskew_i| Change in Skew through the Switch for Input Signals.
ISL54400, ISL54401, ISL54402
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