参数资料
型号: ISL54417IRUZ-T
厂商: Intersil
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文件大小: 0K
描述: IC USB SWITCH DUAL SPDT 10UTQFN
标准包装: 3,000
功能: USB 开关
电路: 2 x SPDT
导通状态电阻: 9 欧姆
电压电源: 单电源
电压 - 电源,单路/双路(±): 1.8 V ~ 5.5 V
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 10-UFQFN
供应商设备封装: 10-UTQFN(2.1x1.6)
包装: 带卷 (TR)
7
FN6318.1
June 27, 2006
Test Circuits and Waveforms
Logic input waveform is inverted for switches that have the opposite
logic sense.
FIGURE 1A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 1B. TEST CIRCUIT
FIGURE 1. SWITCHING TIMES (ISL54417 ONLY)
FIGURE 2A. MEASUREMENT POINTS
Repeat test for all switches. CL includes fixture and stray
capacitance.
FIGURE 2B. TEST CIRCUIT
FIGURE 2. BREAK-BEFORE-MAKE TIME (ISL54417 ONLY)
FIGURE 3. RON TEST CIRCUIT
FIGURE 4. CROSSTALK TEST CIRCUIT
50%
tr < 20ns
tf < 20ns
tOFF
90%
VINH
0V
VNO
VINL
tON
LOGIC
INPUT
SWITCH
INPUT
SWITCH
OUTPUT
90%
VOUT
V
OUT
V
(NO or NC)
R
L
R
L
R
ON
()
+
------------------------------
=
SWITCH
INPUT
CONTROL
INPUT
VOUT
RL
CL
COM
NO or NC
IN
300
Ω
35pF
GND
VDD
C
90%
VINH
VINL
tD
LOGIC
INPUT
SWITCH
OUTPUT
0V
VOUT
LOGIC
INPUT
IN
COM
RL
CL
VOUT
35pF
300
Ω
NO
NC
VDD
GND
VNX
C
VDD
C
NOx or NCx
COMx
IN
GND
VNx
V1
RON = V1/40mA
40mA
Repeat test for all switches.
VBUS or VIN
0V or VDD
ANALYZER
VDD
C
NCx
SIGNAL
GENERATOR
RL
GND
IN1
COMx
32
Ω
N.C.
COMx
NCx
Signal direction through switch is reversed, worst case values
are recorded. Repeat test for all switches.
ISL54415, ISL54416, ISL54417
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