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参数资料
| 型号： | LAL03TB181K |
| 厂商： | TAIYO YUDEN CO LTD |
| 元件分类： | 通用定值电感 |
| 英文描述： | 1 ELEMENT, 180 uH, FERRITE-CORE, GENERAL PURPOSE INDUCTOR |
| 封装： | AXIAL LEADED, ROHS COMPLIANT |
| 文件页数： | 14/22页 |
| 文件大小： | 788K |
| 代理商： | LAL03TB181K |
FERRITE
PRODUCTS
5
357
RELIABILITY DATA
9/9
Item
Specified Value
Test Method and Remarks
27.Low temperature life test
28.High temperature life test
LA
D
Temperature
DK25M2C
Duration
D1000 hrs
Recovery
DAt least 1hr of recovery under the standard re-
moval from test chamber, followed by the mea-
surement within 2hrs.
LHL
D
Temperature
DK40M3C
Duration
D1000M24 hrs
Recovery
D1 to 2hrs of recovery under the standard con-
dition after the removal from the test cfamber.
LAV35
D
Temperature
DK40M3C
Duration
D1000 hrs
Recovery
DAt least 1hr of recovery under the standard re-
moval from test chamber, followed by the mea-
surement within 2hrs.
FL
D
Temperature
DK40M3C
Duration
D500fJ12, K0ghrs
Recovery
D1 to 2hrs of recovery under the standard con-
dition after the removal from the test cfamber.
LHL
D
Temperature
D105M3C
Duration
D1000M24 hrs
Recovery
D1 to 2hrs of recovery under the standard con-
dition after the removal from the test cfamber.
FL
D
Temperature
D85M3C
Duration
D500fJ12, K0ghrs
Recovery
D1 to 2hrs of recovery under the standard con-
dition after the removal from the test cfamber.
L/L
D
WithinM10L
Q
D30min.
Appearance
D
No abnor-
mality
Inductance
change
D
WithinM10L
Q change
D
WithinM30L
f
LHLP
D
only
L/Lg
Appearance
D
No abnor-
mality
Inductance
change
D
WithinM10L
Q change
D
WithinM30L
L/L
D
WithinM10L
Q
D20min.
Refer to
individual
specifica-
tion
Refer to
individual
specifica-
tion
L/L
D
WithinM10L
Q/Q
D
WithinM30L
Appearance
D
No abnor-
mality
Impedance
change
D
WithinM20L
Appearance
D
No abnor-
mality
Impedance
change
D
WithinM20L
LA02 Type/
LA03 Type
LHL
FBA/FBR
LAV35
LA04 Type
FL05
Type
FL06BT
Type
LA45 Type
L/L
D
WithinM10L
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PDF描述 |
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