参数资料
型号: LC4256V-3TN100C
厂商: Lattice Semiconductor Corporation
文件页数: 41/99页
文件大小: 0K
描述: IC CPLD 256MACROCELLS 100TQFP
标准包装: 90
系列: ispMACH® 4000V
可编程类型: 系统内可编程
最大延迟时间 tpd(1): 3.0ns
电压电源 - 内部: 3 V ~ 3.6 V
逻辑元件/逻辑块数目: 16
宏单元数: 256
输入/输出数: 64
工作温度: 0°C ~ 90°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 100-LQFP
供应商设备封装: 100-TQFP(14x14)
包装: 托盘
其它名称: 220-1696
LC4256V-3TN100C-ND
Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C/Z Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 12 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 11.
Figure 12. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
V CCO
R1
DUT
R2
CL
Test
Point
0213A/ispm4k
Table 11. Test Fixture Required Components
Test Condition
R 1
R 2
C L 1
Timing Ref.
V CCO
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106 ? 106 ?
35pF
LVCMOS 2.5 = V CCO /2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = V CCO /2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
?
106 ?
?
106 ?
106 ?
?
106 ?
?
35pF
35pF
5pF
5pF
1.5V
1.5V
V OH - 0.3
V OL + 0.3
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
1. C L includes test fixtures and probe capacitance.
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