参数资料
型号: LC4256V-5T100I
厂商: LATTICE SEMICONDUCTOR CORP
元件分类: PLD
中文描述: EE PLD, 5 ns, PQFP100
封装: TQFP-100
文件页数: 36/99页
文件大小: 760K
代理商: LC4256V-5T100I
Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C/Z Family Data Sheet
41
Switching Test Conditions
Figure 12 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 11.
Figure 12. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 11. Test Fixture Required Components
Test Condition
R1
R2
CL
1
Timing Ref.
VCCO
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106
106
35pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS 2.5 = VCCO/2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = VCCO/2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
LVCMOS I/O (Z -> H)
106
35pF
1.5V
3.0V
LVCMOS I/O (Z -> L)
106
35pF
1.5V
3.0V
LVCMOS I/O (H -> Z)
106
5pF
VOH - 0.3
3.0V
LVCMOS I/O (L -> Z)
106
5pF
VOL + 0.3
3.0V
1. CL includes test fixtures and probe capacitance.
VCCO
R1
R2
CL
DUT
Test
Point
0213A/ispm4k
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