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参数资料
| 型号： | LC4256V-75T100I |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 41/99页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC PLD 256MC 64I/O 7.5NS 100TQFP |
| 标准包装： | 90 |
| 系列： | ispMACH® 4000V |
| 可编程类型： | 系统内可编程 |
| 最大延迟时间 tpd(1)： | 7.5ns |
| 电压电源 - 内部： | 3 V ~ 3.6 V |
| 逻辑元件/逻辑块数目： | 16 |
| 宏单元数： | 256 |
| 输入/输出数： | 64 |
| 工作温度： | -40°C ~ 105°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 100-LQFP |
| 供应商设备封装： | 100-TQFP（14x14） |
| 包装： | 托盘 |
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Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C/Z Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 12 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
Figure 12. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
V CCO
R1
DUT
R2
CL
Test
Point
0213A/ispm4k
Table 11. Test Fixture Required Components
Test Condition
R 1
R 2
C L 1
Timing Ref.
V CCO
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106 ? 106 ?
35pF
LVCMOS 2.5 = V CCO /2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = V CCO /2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
?
106 ?
?
106 ?
106 ?
?
106 ?
?
35pF
35pF
5pF
5pF
1.5V
1.5V
V OH - 0.3
V OL + 0.3
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
1. C L includes test fixtures and probe capacitance.
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参数描述 |
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| LC4256V75T144E | 制造商:Lattice Semiconductor 功能描述:CPLD ispMACH |
| LC4256V-75T144E | 功能描述:CPLD - 复杂可编程逻辑器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存储类型:EEPROM 大电池数量:128 最大工作频率:333 MHz 延迟时间:2.7 ns 可编程输入/输出端数量:64 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 90 C 最小工作温度:0 C 封装 / 箱体:TQFP-100 |
| LC4256V-75T144I | 功能描述:CPLD - 复杂可编程逻辑器件 PROGRAMMABLE SUPER FAST HI DENSITY PLD RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存储类型:EEPROM 大电池数量:128 最大工作频率:333 MHz 延迟时间:2.7 ns 可编程输入/输出端数量:64 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 90 C 最小工作温度:0 C 封装 / 箱体:TQFP-100 |
| LC4256V-75T176C | 功能描述:CPLD - 复杂可编程逻辑器件 3.3V 128 I/O RoHS:否 制造商:Lattice 系列: 存储类型:EEPROM 大电池数量:128 最大工作频率:333 MHz 延迟时间:2.7 ns 可编程输入/输出端数量:64 工作电源电压:3.3 V 最大工作温度:+ 90 C 最小工作温度:0 C 封装 / 箱体:TQFP-100 |
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