参数资料
型号: LC4256ZC-75T176C
厂商: Lattice Semiconductor Corporation
文件页数: 41/99页
文件大小: 0K
描述: IC PLD 256MC 128IO 7.5NS 176TQFP
标准包装: 40
系列: ispMACH® 4000Z
可编程类型: 系统内可编程
最大延迟时间 tpd(1): 7.5ns
电压电源 - 内部: 1.7 V ~ 1.9 V
逻辑元件/逻辑块数目: 16
宏单元数: 256
输入/输出数: 128
工作温度: 0°C ~ 90°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 176-LQFP
供应商设备封装: 176-TQFP(24x24)
包装: 托盘
Lattice Semiconductor
ispMACH 4000V/B/C/Z Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 12 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 11.
Figure 12. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
V CCO
R1
DUT
R2
CL
Test
Point
0213A/ispm4k
Table 11. Test Fixture Required Components
Test Condition
R 1
R 2
C L 1
Timing Ref.
V CCO
LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 3.3 = 3.0V
LVCMOS I/O, (L -> H, H -> L)
106 ? 106 ?
35pF
LVCMOS 2.5 = V CCO /2
LVCMOS 2.5 = 2.3V
LVCMOS 1.8 = V CCO /2
LVCMOS 1.8 = 1.65V
LVCMOS I/O (Z -> H)
LVCMOS I/O (Z -> L)
LVCMOS I/O (H -> Z)
LVCMOS I/O (L -> Z)
?
106 ?
?
106 ?
106 ?
?
106 ?
?
35pF
35pF
5pF
5pF
1.5V
1.5V
V OH - 0.3
V OL + 0.3
3.0V
3.0V
3.0V
3.0V
1. C L includes test fixtures and probe capacitance.
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