参数资料
型号: LCMXO2280C-5T100C
厂商: LATTICE SEMICONDUCTOR CORP
元件分类: PLD
中文描述: FLASH PLD, 3.6 ns, PQFP100
封装: 14 X 14 MM, TQFP-100
文件页数: 40/96页
文件大小: 1389K
代理商: LCMXO2280C-5T100C
3-19
DC and Switching Characteristics
Lattice Semiconductor
MachXO Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 3-6 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Figure 3-5.
Figure 3-6. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 3-5. Test Fixture Required Components, Non-Terminated Interfaces
Test Condition
R1
CL
Timing Ref.
VT
LVTTL and LVCMOS settings (L -> H, H -> L)
0pF
LVTTL, LVCMOS 3.3 = 1.5V
LVCMOS 2.5 = VCCIO/2
LVCMOS 1.8 = VCCIO/2
LVCMOS 1.5 = VCCIO/2
LVCMOS 1.2 = VCCIO/2
LVTTL and LVCMOS 3.3 (Z -> H)
188
0pF
1.5
VOL
LVTTL and LVCMOS 3.3 (Z -> L)
VOH
Other LVCMOS (Z -> H)
VCCIO/2
VOL
Other LVCMOS (Z -> L)
VCCIO/2
VOH
LVTTL + LVCMOS (H -> Z)
VOH - 0.15
VOL
LVTTL + LVCMOS (L -> Z)
VOL - 0.15
VOH
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
DUT
VT
R1
CL
Test Point
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