- 您现在的位置：买卖IC网 > PDF目录4595 > LFEC3E-4FN256I (Lattice Semiconductor Corporation)IC FPGA 3.1KLUTS 256FPBGA PDF资料下载
参数资料
| 型号： | LFEC3E-4FN256I |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 127/163页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 3.1KLUTS 256FPBGA |
| 标准包装： | 90 |
| 系列： | EC |
| 逻辑元件/单元数： | 3100 |
| RAM 位总计： | 56320 |
| 输入/输出数： | 160 |
| 电源电压： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 100°C |
| 封装/外壳： | 256-BGA |
| 供应商设备封装： | 256-FPBGA（17x17） |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页当前第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页
3-30
DC and Switching Characteristics
LatticeECP/EC Family Data Sheet
Switching Test Conditions
Figure 3-21 shows the output test load that is used for AC testing. The specific values for resistance, capacitance,
voltage, and other test conditions are shown in Table 3-6.
Figure 3-21. Output Test Load, LVTTL and LVCMOS Standards
Table 3-6. Test Fixture Required Components, Non-Terminated Interfaces
Test Condition
R1
CL
Timing Ref.
VT
LVTTL and other LVCMOS settings (L -> H, H -> L)
0pF
LVCMOS 3.3 = 1.5V
—
LVCMOS 2.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.8 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.5 = VCCIO/2
—
LVCMOS 1.2 = VCCIO/2
—
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> H)
188
0pF
VCCIO/2
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (Z -> L)
VCCIO/2
VOH
LVCMOS 2.5 I/O (H -> Z)
VOH - 0.15
VOL
LVCMOS 2.5 I/O (L -> Z)
VOL + 0.15
VOH
Note: Output test conditions for all other interfaces are determined by the respective standards.
DUT
VT
R1
CL*
Test Point
*CL Includes Test Fixture and Probe Capacitance
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MAX1806EUA33+ | IC REG LDO 3.3V/ADJ .5A 8-UMAX |
| LFEC3E-5FN256C | IC FPGA 3.1KLUTS 256FPBGA |
| ABC43DRXS-S734 | CONN EDGECARD 86POS DIP .100 SLD |
| ASC28DRAN-S734 | CONN EDGECARD 56POS .100 R/A PCB |
| ASC28DRAH-S734 | CONN EDGECARD 56POS .100 R/A PCB |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| LFEC3E-4FN484C | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFEC3E-4FN484I | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFEC3E-4FN672C | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFEC3E-4FN672I | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFEC3E-4Q208C | 功能描述:FPGA - 现场可编程门阵列 3.1K LUTs 145 IO 1.2 V -4 Spd RoHS:否 制造商:Altera Corporation 系列:Cyclone V E 栅极数量: 逻辑块数量:943 内嵌式块RAM - EBR:1956 kbit 输入/输出端数量:128 最大工作频率:800 MHz 工作电源电压:1.1 V 最大工作温度:+ 70 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:FBGA-256 |
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。