- 您现在的位置：买卖IC网 > PDF目录1932 > LFECP33E-4FN672I (Lattice Semiconductor Corporation)IC FPGA 32.8KLUTS 672FPBGA PDF资料下载
参数资料
| 型号： | LFECP33E-4FN672I |
| 厂商： | Lattice Semiconductor Corporation |
| 文件页数： | 126/163页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FPGA 32.8KLUTS 672FPBGA |
| 产品培训模块： | LatticeECP3 Introduction |
| 标准包装： | 40 |
| 系列： | ECP |
| 逻辑元件/单元数： | 32800 |
| RAM 位总计： | 434176 |
| 输入/输出数： | 496 |
| 电源电压： | 1.14 V ~ 1.26 V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 工作温度： | -40°C ~ 100°C |
| 封装/外壳： | 672-BBGA |
| 供应商设备封装： | 672-FPBGA（27x27） |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页当前第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页
3-29
DC and Switching Characteristics
LatticeECP/EC Family Data Sheet
JTAG Port Timing Specifications
Over Recommended Operating Conditions
Figure 3-20. JTAG Port Timing Waveforms
Symbol
Parameter
Min
Max
Units
fMAX
TCK clock frequency
—
25
MHz
tBTCP
TCK [BSCAN] clock pulse width
40
—
ns
tBTCPH
TCK [BSCAN] clock pulse width high
20
—
ns
tBTCPL
TCK [BSCAN] clock pulse width low
20
—
ns
tBTS
TCK [BSCAN] setup time
8
—
ns
tBTH
TCK [BSCAN] hold time
10
—
ns
tBTRF
TCK [BSCAN] rise/fall time
50
—
mV/ns
tBTCO
TAP controller falling edge of clock to valid output
—
10
ns
tBTCODIS
TAP controller falling edge of clock to valid disable
—
10
ns
tBTCOEN
TAP controller falling edge of clock to valid enable
—
10
ns
tBTCRS
BSCAN test capture register setup time
8
—
ns
tBTCRH
BSCAN test capture register hold time
25
—
ns
tBUTCO
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid output
—
25
ns
tBTUODIS
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid disable
—
25
ns
tBTUPOEN
BSCAN test update register, falling edge of clock to valid enable
—
25
ns
Timing v.G 0.30
TMS
TDI
TCK
TDO
Data to be
captured
from I/O
Data to be
driven out
to I/O
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
a
t
a
D
d
il
a
V
Data Captured
tBTCPH
tBTCPL
tBTCOEN
tBTCRS
tBTUPOEN
tBUTCO
tBTUODIS
tBTCRH
tBTCO
tBTCODIS
tBTS
tBTH
tBTCP
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| LFX200B-05FN256C | IC FPGA 200K GATES 256-BGA |
| LFXP20E-5F484C | IC FPGA 19.7KLUTS 340I/O 484-BGA |
| LPC11C24FBD48/301, | IC MCU 32BIT 32KB FLASH 48LQFP |
| LPC11D14FBD100/302 | IC MCU 32BIT 32K 100LQFP |
| LPC11E14FBD64/401, | IC MCU 32BIT 32K 64LQFP |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| LFECP33E-4Q208C | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-4Q208I | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-4QN208C | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-4QN208I | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
| LFECP33E-4T100C | 制造商:LATTICE 制造商全称:Lattice Semiconductor 功能描述:LatticeECP/EC Family Data Sheet |
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。