参数资料
型号: LTC1276BCN
厂商: Linear Technology
文件页数: 24/24页
文件大小: 0K
描述: IC A/D CONV 12BIT SAMPLING 24DIP
标准包装: 15
位数: 12
采样率(每秒): 300k
数据接口: 并联
转换器数目: 1
功率耗散(最大): 75mW
电压电源: 双 ±
工作温度: 0°C ~ 70°C
安装类型: 通孔
封装/外壳: 24-DIP(0.300",7.62mm)
供应商设备封装: 24-PDIP
包装: 管件
输入数目和类型: 1 个单端,单极;1 个单端,双极
9
LTC1273
LTC1275/LTC1276
127356fa
PI
U
FU
U
C
U
S
O
TI
VSS (Pin 23): Negative Supply. – 5V for LTC1275/
LTC1276. Bypass to AGND with 0.1
F ceramic.
NC (Pin 23): No Connection for LTC1273.
VDD (Pin 24): Positive Supply, 5V. Bypass to AGND
(10
F tantalum in parallel with 0.1F ceramic).
Table 1. Data Bus Output, CS and RD = LOW
Pin 4
Pin 5
Pin 6
Pin 7
Pin 8
Pin 9
Pin 10
Pin 11
Pin 13
Pin 14
Pin 15
Pin 16
MNEMONIC*
D11
D10
D9
D8
D7
D6
D5
D4
D3/11
D2/10
D1/9
D0/8
HBEN = LOW
DB11
DB10
DB9
DB8
DB7
DB6
DB5
DB4
DB3
DB2
DB1
DB0
HBEN = HIGH
DB11
DB10
DB9
DB8
LOW
DB11
DB10
DB9
DB8
*D11...D0/8 are the ADC data output pins.
DB11...DB0 are the 12-bit conversion results, DB11 is the MSB.
FU TIO AL BLOCK DIAGRA
UU
W
CSAMPLE
CONTROL
LOGIC
INTERNAL
CLOCK
SUCCESSIVE
APPROXIMATION
REGISTER
12
OUTPUT
LATCHES
D11
D0/8
BUSY
2.42V
REFERENCE
VREF(OUT)
DGND
AGND
AIN
SAMPLE
HOLD
SAMPLE
VSS (NC ON LTC1273)
VDD
HBEN
CS
RD
LTC1273/75/76 FBD
12-BIT
CAPACITIVE
DAC
COMPARATOR
+
TEST CIRCUITS
Load Circuits for Access Time
Load Circuits for Output Float Delay
3k
CL
DBN
DGND
A) HIGH-Z TO VOH (t3)
AND VOL TO VOH (t6)
CL
DBN
3k
5V
B) HIGH-Z TO VOL (t3)
AND VOH TO VOL (t6)
DGND
1273/75/76 TA07
3k
10pF
DBN
DGND
A) VOH TO HIGH-Z
10pF
DBN
3k
5V
B) VOL TO HIGH-Z
DGND
1273/75/76 TA08
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PDF描述
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参数描述
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