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参数资料
| 型号： | M27C512-45XN1 |
| 厂商： | 意法半导体 |
| 英文描述： | 512 Kbit (64K x8) UV EPROM and OTP EPROM |
| 中文描述： | 512千位（64K的× 8）紫外线存储器和OTP存储器 |
| 文件页数： | 2/22页 |
| 文件大小： | 403K |
| 代理商： | M27C512-45XN1 |
M27C512
10/22
DC AND AC PARAMETERS
This section summarizes the operating and mea-
surement conditions, and the DC and AC charac-
teristics of the device. The parameters in the DC
and AC Characteristic tables that follow are de-
rived from tests performed under the Measure-
ment Conditions summarized in the relevant
tables. Designers should check that the operating
conditions in their circuit match the measurement
conditions when relying on the quoted parame-
ters.
Table 5. AC Measurement Conditions
Figure 7. Testing Input Output Waveform
Figure 8. AC Testing Load Circuit
Table 6. Capacitance
Note: 1. TA = 25°C, f = 1MHz
2. Sampled only, not 100% tested.
High Speed
Standard
Input Rise and Fall Times
≤ 10ns
≤ 20ns
Input Pulse Voltages
0 to 3V
0.4V to 2.4V
Input and Output Timing Ref. Voltages
1.5V
0.8V and 2V
AI01822
3V
High Speed
0V
1.5V
2.4V
Standard
0.4V
2.0V
0.8V
AI01823B
1.3V
OUT
CL
CL = 30pF for High Speed
CL = 100pF for Standard
CL includes JIG capacitance
3.3k
1N914
DEVICE
UNDER
TEST
Symbol
Parameter
Test Condition (1,2)
Min
Max
Unit
CIN
Input Capacitance
VIN = 0V
6pF
COUT
Output Capacitance
VOUT = 0V
12
pF
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PDF描述 |
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