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参数资料
| 型号： | MB9BF418TPMC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | RISC MICROCONTROLLER, PQFP176 |
| 封装： | 0.50 MM PITCH, PLASTIC, LQFP-176 |
| 文件页数： | 25/64页 |
| 文件大小： | 1012K |
| 代理商： | MB9BF418TPMC |
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31
MB9B410T Series
FUJITSU SEMICONDUCTOR CONFIDENTIAL
r1.0
Pin No
Module
Pin name
Function
LQFP-176 LQFP-144
BGA-192
TIOA14_0
151
121
D8
TIOA14_1
78
-
N10
TIOA14_2
Base timer ch.14 TIOA pin
102
86
J10
TIOB14_0
164
134
B6
TIOB14_1
79
-
L10
Base
Timer
14
TIOB14_2
Base timer ch.14 TIOB pin
103
87
J9
TIOA15_0
73
65
N9
TIOA15_1
80
-
K10
TIOA15_2
Base timer ch.15 TIOA pin
104
88
H10
TIOB15_0
74
66
M9
TIOB15_1
81
-
M10
Base
Timer
15
TIOB15_2
Base timer ch.15 TIOB pin
105
89
H9
TX0_0
65
57
J6
TX0_1
32
-
J5
TX0_2
CAN interface ch.0 TX output
7
D1
RX0_0
66
58
N8
RX0_1
33
-
J4
CAN 0
RX0_2
CAN interface ch.0 RX output
6
D2
TX1_0
122
98
E10
TX1_1
23
G5
TX1_2
CAN interface ch.1 TX output
92
76
L13
RX1_0
123
99
E11
RX1_1
22
G4
CAN 1
RX1_2
CAN interface ch.1 RX output
91
75
M12
SWCLK
Serial wire debug interface clock input
135
111
A12
SWDIO
Serial wire debug interface data input /
output
137
113
B12
SWO
Serial wire viewer output
138
114
B11
TCK
J-TAG test clock input
135
111
A12
TDI
J-TAG test data input
136
112
C12
TDO
J-TAG debug data output
138
114
B11
TMS
J-TAG test mode state input/output
137
113
B12
TRACECLK
Trace CLK output of ETM
12
E4
TRACED0
8
D3
TRACED1
9
D4
TRACED2
10
E2
TRACED3
Trace data output of ETM
11
E3
Debugger
TRSTX
J-TAG test reset Input
134
110
B13
DS706-00018-0v02-E
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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