参数资料
| 型号： | MC14022BD |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 4/8页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC COUNTER OCTAL 4STAGE 16-SOIC |
| 产品变化通告： | Product Discontinuation 20/Aug/2008 |
| 标准包装： | 48 |
| 系列： | 4000B |
| 逻辑类型： | 二进制计数器 |
| 方向： | 上 |
| 元件数： | 1 |
| 每个元件的位元数： | 8 |
| 复位： | 异步 |
| 计数速率： | 16MHz |
| 触发器类型： | 正，负 |
| 电源电压： | 3 V ~ 18 V |
| 工作温度： | -55°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 16-SOIC |
| 包装： | 管件 |
MC14022B
http://onsemi.com
4
Characteristic
Symbol
VDD
Vdc
Min
Typ
(Note 6)
Max
Unit
Output Rise and Fall Time
tTLH, tTHL = (1.5 ns/pF) CL + 25 ns
tTLH, tTHL = (0.75 ns/pF) CL + 12.5 ns
tTLH, tTHL = (0.55 ns/pF) CL + 9.5 ns
tTLH,
tTHL
5.0
10
15
—
100
50
40
200
100
80
ns
Propagation Delay Time
Reset to Decode Output
tPLH, tPHL = (1.7 ns/pF) CL + 415 ns
tPLH, tPHL = (0.66 ns/pF) CL + 197 ns
tPLH, tPHL = (0.5 ns/pF) CL + 150 ns
tPLH,
tPHL
5.0
10
15
—
500
230
175
1000
460
350
ns
Propagation Delay Time
Clock to Cout
tPLH, tPHL = (1.7 ns/pF) CL + 315 ns
tPLH, tPHL = (0.66 ns/pF) CL + 142 ns
tPLH, tPHL = (0.5 ns/pF) CL + 100 ns
tPLH,
tPHL
5.0
10
15
—
400
175
125
800
350
250
ns
Propagation Delay Time
Clock to Decode Output
tPLH, tPHL = (1.7 ns/pF) CL + 415 ns
tPLH, tPHL = (0.66 ns/pF) CL + 197 ns
tPLH, tPHL = (0.5 ns/pF) CL + 150 ns
tPLH,
tPHL
5.0
10
15
—
275
125
95
1000
460
350
ns
TurnOff Delay Time
Reset to Cout
tPLH = (1.7 ns/pF) CL + 315 ns
tPLH = (0.66 ns/pF) CL + 142 ns
tPLH = (0.5 ns/pF) CL + 100 ns
tPLH
5.0
10
15
—
400
175
125
800
350
250
ns
Clock Pulse Width
tWH
5.0
10
15
250
100
75
125
50
35
—
ns
Clock Frequency
fcl
5.0
10
15
—
5.0
12
16
2.0
5.0
6.7
MHz
Reset Pulse Width
tWH
5.0
10
15
500
250
190
250
125
95
—
ns
Reset Removal Time
trem
5.0
10
15
750
275
210
375
135
105
—
ns
Clock Input Rise and Fall Time
tTLH, tTHL
5.0
10
15
No Limit
—
Clock Enable Setup Time
tsu
5.0
10
15
350
150
115
175
75
52
—
ns
Clock Enable Removal Time
trem
5.0
10
15
420
200
140
260
100
70
—
ns
5. The formulas given are for the typical characteristics only at 25_C.
6. Data labelled “Typ” is not to be used for design purposes but is intended as an indication of the IC’s potential performance.
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