参数资料
| 型号： | MC14082BDR2G |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 7/12页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC GATE AND DUAL CMOS 14-SOIC |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | 4000B |
| 逻辑类型： | 与门 |
| 电路数： | 2 |
| 输入数： | 4 |
| 电源电压： | 3 V ~ 18 V |
| 电流 - 静态（最大值）： | 1µA |
| 输出电流高，低： | 8.8mA，8.8mA |
| 逻辑电平 - 低： | 1.5 V ~ 4 V |
| 逻辑电平 - 高： | 3.5 V ~ 11 V |
| 额定电压和最大 CL 时的最大传播延迟： | 100ns @ 15V，50pF |
| 工作温度： | -55°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 供应商设备封装： | 14-SOICN |
| 封装/外壳： | 14-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 包装： | 带卷 (TR) |
MC14001B Series
http://onsemi.com
4
BSERIES GATE SWITCHING TIMES
Characteristic
Symbol
VDD
Vdc
Min
Typ (6)
Max
Unit
Output Rise Time, All BSeries Gates
tTLH = (1.35 ns/pF) CL + 33 ns
tTLH = (0.60 ns/pF) CL + 20 ns
tTLH = (0.40 ns/PF) CL + 20 ns
tTLH
5.0
10
15
100
50
40
200
100
80
ns
Output Fall Time, All BSeries Gates
tTHL = (1.35 ns/pF) CL + 33 ns
tTHL = (0.60 ns/pF) CL + 20 ns
tTHL = (0.40 ns/pF) CL + 20 ns
tTHL
5.0
10
15
100
50
40
200
100
80
ns
Propagation Delay Time
MC14001B, MC14011B only
tPLH, tPHL = (0.90 ns/pF) CL + 80 ns
tPLH, tPHL = (0.36 ns/pF) CL + 32 ns
tPLH, tPHL = (0.26 ns/pF) CL + 27 ns
All Other 2, 3, and 4 Input Gates
tPLH, tPHL = (0.90 ns/pF) CL + 115 ns
tPLH, tPHL = (0.36 ns/pF) CL + 47 ns
tPLH, tPHL = (0.26 ns/pF) CL + 37 ns
8Input Gates (MC14068B, MC14078B)
tPLH, tPHL = (0.90 ns/pF) CL + 155 ns
tPLH, tPHL = (0.36 ns/pF) CL + 62 ns
tPLH, tPHL = (0.26 ns/pF) CL + 47 ns
tPLH, tPHL
5.0
10
15
5.0
10
15
5.0
10
15
125
50
40
160
65
50
200
80
60
250
100
80
300
130
100
350
150
110
ns
5. The formulas given are for the typical characteristics only at 25_C.
6. Data labelled “Typ” is not to be used for design purposes but is intended as an indication of the IC’s potential performance.
VDD
14
CL
VSS
7
PULSE
GENERATOR
INPUT
OUTPUT
90%
50%
10%
50%
90%
20 ns
tPHL
tPLH
tTLH
tTHL
VOL
VOH
0 V
VDD
INPUT
OUTPUT
INVERTING
*All unused inputs of AND, NAND gates must be connected to VDD.
All unused inputs of OR, NOR gates must be connected to VSS.
90%
50%
10%
VOL
VOH
OUTPUT
NON-INVERTING
tTHL
tTLH
tPLH
tPHL
*
Figure 1. Switching Time Test Circuit and Waveforms
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