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参数资料
| 型号： | MC33290 |
| 厂商： | 飞思卡尔半导体(中国)有限公司 |
| 英文描述： | ISO K Line Serial Link Interface(串行ISO K-Line接口) |
| 中文描述： | 标准K线串行接口（串行标准K线接口） |
| 文件页数： | 5/12页 |
| 文件大小： | 396K |
| 代理商： | MC33290 |
MOTOROLA ANALOG INTEGRATED CIRCUIT DEVICE DATA
33290
5
STATIC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
Characteristics noted under conditions of 4.75 V
≤
V
DD
≤
5.25 V, 8.0 V
≤
V
BB
≤
18 V, -40
°
C
≤
T
C
≤
125
°
C, unless otherwise noted.
Characteristic
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
POWER AND CONTROL
V
DD
Sleep State Current
T
x
= 0.8 V
DD
, CEN = 0.3 V
DD
I
DD(SS)
–
–
0.1
mA
V
DD
Quiescent Operating Current
T
x
= 0.2 V
DD
, CEN = 0.7 V
DD
I
DD(Q)
–
–
1.0
mA
V
BB
Sleep State Current
V
BB
= 16 V, T
x
= 0.8 V
DD
, CEN = 0.3 V
DD
I
BB(SS)
–
–
50
μA
V
BB
Quiescent Operating Current
T
X
= 0.2 V
DD
, CEN = 0.7 V
DD
I
BB(Q)
–
–
1.0
mA
Chip Enable
Input High-Voltage Threshold (Note 8)
Input Low-Voltage Threshold (Note 9)
V
IH(CEN)
V
IL(CEN)
0.7 V
DD
–
–
–
–
0.3 V
DD
V
Chip Enable Pull-Down Current (Note 10)
I
PD(CEN)
2.0
–
40
μA
T
X
Input Low-Voltage Threshold
R
ISO
= 510
(Note 11)
V
IL(Tx)
–
–
0.3 x V
DD
V
T
X
Input High-Voltage Threshold
R
ISO
= 510
(Note 12)
V
IH(Tx)
0.7 x V
DD
–
–
V
T
X
Pull-Up Current (Note 13)
I
PU(Tx)
-40
–
-2.0
μA
R
X
Output Low-Voltage Threshold
R
ISO
= 510
, T
X
= 0.2 V
DD
, R
x
Sinking 1.0 mA
V
OL(Rx)
–
–
0.2 V
DD
V
R
X
Output High-Voltage Threshold
R
ISO
= 510
, T
X
= 0.8 V
DD
, R
X
Sourcing 250 μA
V
OH(Rx)
0.8 V
DD
–
–
V
Thermal Shutdown (Note 14)
T
LIM
150
170
–
°
C
Notes
8.
9.
10.
11.
12.
13.
14.
When IBB transitions to >100 μA.
When IBB transitions to <100 μA.
Enable pin has an internal current pull-down. Pull-down current is measured with CEN pin at 0.3 V
DD
.
Measured by ramping T
X
down from 0.7 V
DD
and noting T
X
value at which ISO falls below 0.2 V
BB
.
Measured by ramping T
X
up from 0.3 V
DD
and noting the value at which ISO rises above 0.9 V
BB
.
T
x
pin has internal current pull-up. Pull-up current is measured with T
X
pin at 0.7 V
DD
.
Thermal Shutdown performance (T
LIM
) is guaranteed by design but not production tested
.
F
Freescale Semiconductor, Inc.
Go to: www.freescale.com
n
.
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