参数资料
| 型号： | MC74HC251ADR2G |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 5/9页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC DATA SEL/MUX 3ST 8X1 16SOIC |
| 标准包装： | 2,500 |
| 系列： | 74HC |
| 类型： | 数据选择器/多路复用器 |
| 电路： | 1 x 8:1 |
| 独立电路： | 1 |
| 输出电流高，低： | 5.2mA，5.2mA |
| 电压电源： | 单电源 |
| 电源电压： | 2 V ~ 6 V |
| 工作温度： | -55°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 16-SOIC |
| 包装： | 带卷 (TR) |
MC74HC251A
http://onsemi.com
5
SWITCHING WAVEFORMS
Figure 2.
Figure 3.
Figure 4.
VCC
GND
tf
tr
INPUT D
OUTPUT Y
10%
50%
90%
10%
50%
90%
tTLH
tPLH
tPHL
tTHL
tr
tf
VCC
GND
INPUT D
OUTPUT Y
tPHL
tPLH
tTLH
tTHL
10%
50%
90%
10%
50%
90%
VCC
GND
50%
INPUT A
tPLH
tPHL
50%
OUTPUT
Y OR Y
Figure 5.
VALID
OUTPUT
ENABLE
Y OR Y
50%
90%
10%
tPZL
tPLZ
tPZH
tPHZ
VCC
GND
HIGH
IMPEDANCE
VOL
VOH
HIGH
IMPEDANCE
TEST CIRCUITS
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
Figure 6.
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
Figure 7.
CONNECT TO VCC WHEN
TESTING tPLZ AND tPZL.
CONNECT TO GND WHEN
TESTING tPHZ AND tPZH.
1 k
W
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PDF描述 |
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