参数资料
| 型号： | MC74HC574AFG |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 6/9页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC FLIP FLOP OCT D 3ST 20-SOEIAJ |
| 产品变化通告： | 1Q2012 Discontinuation 30/Mar/2012 |
| 标准包装： | 40 |
| 系列： | 74HC |
| 功能： | 标准 |
| 类型： | D 型总线 |
| 输出类型： | 三态非反相 |
| 元件数： | 1 |
| 每个元件的位元数： | 8 |
| 频率 - 时钟： | 35MHz |
| 延迟时间 - 传输： | 27ns |
| 触发器类型： | 正边沿 |
| 输出电流高，低： | 7.8mA，7.8mA |
| 电源电压： | 2 V ~ 6 V |
| 工作温度： | -55°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 20-SOIC（0.209"，5.30mm 宽） |
| 包装： | 管件 |
MC74HC574A
http://onsemi.com
6
Figure 3.
Figure 4.
CLOCK
Q
tr
tf
VCC
GND
90%
50%
10%
90%
50%
10%
tPLH
tPHL
tTLH
tTHL
tw
1/fmax
Q
VM
90%
10%
tPZL
tPLZ
tPZH
tPHZ
VCC
GND
HIGH
IMPEDANCE
VOL
VOH
OUTPUT
ENABLE
SWITCHING WAVEFORMS
Figure 5.
Figure 6.
Figure 7. Test Circuit
Figure 8. Expanded Logic Diagram
50%
CLOCK
VCC
VALID
GND
VCC
GND
tsu
th
50%
DATA
*Includes all probe and jig capacitance.
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
*Includes all probe and jig capacitance.
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
CONNECT TO VCC WHEN
TESTING tPLZ AND tPZL.
CONNECT TO GND WHEN
TESTING tPHZ AND tPZH.
1 kW
C
D
Q
2
D0
19 Q0
C
D
Q
3
D1
18 Q1
C
D
Q
4
D2
17 Q2
C
D
Q
5
D3
16 Q3
C
D
Q
6
D4
15 Q4
C
D
Q
7
D5
14 Q5
C
D
Q
8
D6
13 Q6
C
D
Q
9
D7
12 Q7
11
CLOCK
1
OUTPUT ENABLE
MC74HC574A: VM = VOH x 0.5
MC74HCT574A: VM = 1.3 V @ VCC = 3 V
相关PDF资料 |
PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| MC74HC574N | 制造商:Motorola 功能描述:74CH574 MOTOROLA |
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