参数资料
型号: MC74LVX373DWR2
厂商: ON Semiconductor
文件页数: 5/7页
文件大小: 0K
描述: IC LATCH TRANSP OCT 3ST 20-SOICW
产品变化通告: Product Discontinuation 20/Aug/2008
标准包装: 1,000
系列: 74LVX
逻辑类型: D 型透明锁存器
电路: 8:8
输出类型: 三态
电源电压: 2 V ~ 3.6 V
独立电路: 1
延迟时间 - 传输: 5.8ns
输出电流高,低: 4mA,4mA
工作温度: -40°C ~ 85°C
安装类型: 表面贴装
封装/外壳: 20-SOIC(0.295",7.50mm 宽)
供应商设备封装: 20-SOIC
包装: 带卷 (TR)
MC74LVX373
http://onsemi.com
5
ORDERING INFORMATION
Device
Package
Shipping
MC74LVX373DWR2G
SOIC20
(PbFree)
1000 Tape & Reel
MC74LVX373DTR2G
TSSOP20*
2500 Tape & Reel
MC74LVX373MG
SOEIAJ20
(PbFree)
50 Units / Rail
MC74LVX373MELG
SOEIAJ20
(PbFree)
2000 Tape & Reel
For information on tape and reel specifications, including part orientation and tape sizes, please refer to our Tape and Reel Packaging
Specifications Brochure, BRD8011/D.
*This package is inherently PbFree.
VCC
GND
D
O
50%
50% VCC
tPLH
tPHL
VCC
GND
50%
LE
tPLH
tPHL
O
tw
50% VCC
Figure 3.
Figure 4.
50%
50% VCC
O
tPZL
tPLZ
tPZH
tPHZ
VOL +0.3V
VOL -0.3V
VCC
GND
HIGH
IMPEDANCE
HIGH
IMPEDANCE
O
OE
50%
D
LE
VCC
GND
VALID
th
tsu
50%
Figure 5.
Figure 6.
SWITCHING WAVEFORMS
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
*Includes all probe and jig capacitance
CL*
TEST POINT
DEVICE
UNDER
TEST
OUTPUT
CONNECT TO VCC WHEN
TESTING tPLZ AND tPZL.
CONNECT TO GND WHEN
TESTING tPHZ AND tPZH.
1 k
W
TEST CIRCUITS
Figure 7. Propagation Delay Test Circuit
Figure 8. ThreeState Test Circuit
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MC74LVX373M 功能描述:闭锁 2-3.6V Octal RoHS:否 制造商:Micrel 电路数量:1 逻辑类型:CMOS 逻辑系列:TTL 极性:Non-Inverting 输出线路数量:9 高电平输出电流: 低电平输出电流: 传播延迟时间: 电源电压-最大:12 V 电源电压-最小:5 V 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 封装 / 箱体:SOIC-16 封装:Reel
MC74LVX373MEL 功能描述:闭锁 2-3.6V Octal RoHS:否 制造商:Micrel 电路数量:1 逻辑类型:CMOS 逻辑系列:TTL 极性:Non-Inverting 输出线路数量:9 高电平输出电流: 低电平输出电流: 传播延迟时间: 电源电压-最大:12 V 电源电压-最小:5 V 最大工作温度:+ 85 C 最小工作温度:- 40 C 封装 / 箱体:SOIC-16 封装:Reel
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