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参数资料
型号： MC9S08LC60LK
厂商： Freescale Semiconductor
文件页数： 252/360页
文件大小： 0K
描述： IC MCU 60K FLASH 4K RAM 80-LQFP
产品培训模块： MC9S08LC60 LCD Microcontroller
标准包装： 96
系列： S08
核心处理器： S08
芯体尺寸： 8-位
速度： 40MHz
连通性： I²C，SCI，SPI
外围设备： LCD，LVD，POR，PWM，WDT
输入/输出数： 24
程序存储器容量： 60KB（60K x 8）
程序存储器类型： 闪存
RAM 容量： 4K x 8
电压 - 电源 (Vcc/Vdd)： 1.8 V ~ 3.6 V
数据转换器： A/D 8x12b
振荡器型： 外部
工作温度： 0°C ~ 70°C
封装/外壳： 80-LQFP
包装： 托盘
产品目录页面： 730 (CN2011-ZH PDF)
配用： DEMO9S08LC60-ND - BOARD DEMO FOR 9S08LC60
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Appendix A Electrical Characteristics
MC9S08LC60 Series Data Sheet: Technical Data, Rev. 4
Freescale Semiconductor
325
K = PD × (TA + 273°C) + θJA × (PD)
2
Eqn. A-3
where K is a constant pertaining to the particular part. K can be determined from Equation A-3 by
measuring PD (at equilibrium) for a known TA. Using this value of K, the values of PD and TJ can be
obtained by solving equations 1 and 2 iteratively for any value of TA.
A.4
Electrostatic Discharge (ESD) Protection Characteristics
Although damage from static discharge is much less common on these devices than on early CMOS
circuits, normal handling precautions should be used to avoid exposure to static discharge. Qualication
tests are performed to ensure that these devices can withstand exposure to reasonable levels of static
without suffering any permanent damage. All ESD testing is in conformity with CDF-AEC-Q00 Stress
Test Qualication for Automotive Grade Integrated Circuits. (http://www.aecouncil.com/) This device was
qualied to AEC-Q100 Rev E. A device is considered to have failed if, after exposure to ESD pulses, the
device no longer meets the device specication requirements. Complete dc parametric and functional
testing is performed per the applicable device specication at room temperature followed by hot
temperature, unless specied otherwise in the device specication.
Table A-3. ESD and Latch-up Test Conditions
Model
Description
Symbol
Value
Unit
Human
Body
Series resistance
R1
1500
Ω
Storage capacitance
C
100
pF
Number of pulses per pin
—
3
Machine
Series resistance
R1
0
Ω
Storage capacitance
C
200
pF
Number of pulses per pin
—
3
Latch-up
Minimum input voltage limit
1.8
V
Maximum input voltage limit
3.6
V
Table A-4. ESD and Latch-Up Protection Characteristics
No.
Rating(1)
1 Parameter is achieved by design characterization on a small sample size from typical devices
under typical conditions unless otherwise noted.
Symbol
Min
Max
Unit
1
Human body model (HBM)
VHBM
± 2000
—
V
2
Machine model (MM)
VMM
± 200
—
V
3
Charge device model (CDM)
VCDM
± 500
—
V
4
Latch-up current at TA =85°CILAT
± 100
—
mA
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参数描述
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MC9S08LG16 制造商:FREESCALE 制造商全称:Freescale Semiconductor, Inc 功能描述:8-bit HCS08 Central Processor Unit (CPU)
MC9S08LG16CLF 功能描述:8位微控制器 -MCU 8 BIT 16K FLASH RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT
MC9S08LG16CLF 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:IC 8BIT MCU HCS08 40MHZ LQFP-48
MC9S08LG16CLH 功能描述:8位微控制器 -MCU 8 BIT 16K FLASH RoHS:否 制造商:Silicon Labs 核心:8051 处理器系列:C8051F39x 数据总线宽度:8 bit 最大时钟频率:50 MHz 程序存储器大小:16 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:1.8 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:QFN-20 安装风格:SMD/SMT
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