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参数资料
| 型号： | MC9S12C32PMFU16 |
| 厂商： | FREESCALE SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 16-BIT, FLASH, 16 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP80 |
| 封装： | PLASTIC, QFP-80 |
| 文件页数： | 87/116页 |
| 文件大小： | 1882K |
| 代理商： | MC9S12C32PMFU16 |
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页当前第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页
Device User Guide — 9S12C32DGV1/D V01.14
A.1.6 ESD Protection and Latch-up Immunity
All ESD testing is in conformity with CDF-AEC-Q100 Stress test qualification for Automotive Grade
Integrated Circuits. During the device qualification ESD stresses were performed for the Human Body
Model (HBM), the Machine Model (MM) and the Charge Device Model.
A device will be defined as a failure if after exposure to ESD pulses the device no longer meets the device
specification. Complete DC parametric and functional testing is performed per the applicable device
specification at room temperature followed by hot temperature, unless specified otherwise in the device
specification.
A.1.7 Operating Conditions
This chapter describes the operating conditions of the device. Unless otherwise noted those conditions
apply to all the following data.
Table A-2 ESD and Latch-up Test Conditions
Model
Description
Symbol
Value
Unit
Human Body
Series Resistance
R1
1500
Ohm
Storage Capacitance
C
100
pF
Number of Pulse per pin
positive
negative
-
3
Machine
Series Resistance
R1
0
Ohm
Storage Capacitance
C
200
pF
Number of Pulse per pin
positive
negative
-
3
Latch-up
Minimum input voltage limit
-2.5
V
Maximum input voltage limit
7.5
V
Table A-3 ESD and Latch-Up Protection Characteristics
Num
C
Rating
Symbol
Min
Max
Unit
1
C
Human Body Model (HBM)
VHBM
2000
-
V
2
C
Machine Model (MM)
VMM
200
-
V
3
C
Charge Device Model (CDM)
VCDM
500
-
V
4C
Latch-up Current at 125
°C
positive
negative
ILAT
+100
-100
-mA
5C
Latch-up Current at 27
°C
positive
negative
ILAT
+200
-200
-mA
F
re
e
sc
a
le
S
e
m
ic
o
n
d
u
c
to
r,
I
Freescale Semiconductor, Inc.
For More Information On This Product,
Go to: www.freescale.com
n
c
..
.
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PDF描述 |
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