参数资料
型号: MC9S12C32VFA25
厂商: MOTOROLA INC
元件分类: 微控制器/微处理器
英文描述: 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP48
封装: LQFP-48
文件页数: 10/136页
文件大小: 2022K
代理商: MC9S12C32VFA25
Device User Guide — 9S12C128DGV1/D V01.05
107
B.5.2 NVM Reliability
The reliability of the NVM blocks is guaranteed by stress test during qualification, constant process
monitors and burn-in to screen early life failures.
The failure rates for data retention and program/erase cycling are specified at
<2ppm defects over lifetime
at the operating conditions noted.
A program/erase cycle is specified as two transitions of the cell value from erased
→ programmed →
erased, 1
→ 0 → 1.
NOTE:
All values shown in Table B-9 are target values and subject to further extensive
characterization.
Table B-9 NVM Reliability Characteristics
Conditions are shown in Table A-4 unless otherwise noted
Num
C
Rating
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
1C
Data Retention at an average junction temperature of
TJavg = 85°C
tNVMRET
15
Years
2
C
Flash number of Program/Erase cycles
nFLPE
10,000
Cycles
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MC9S12C32VFUE25 功能描述:16位微控制器 - MCU GOLDFISH RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:RISC 处理器系列:MSP430FR572x 数据总线宽度:16 bit 最大时钟频率:24 MHz 程序存储器大小:8 KB 数据 RAM 大小:1 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2 V to 3.6 V 工作温度范围:- 40 C to + 85 C 封装 / 箱体:VQFN-40 安装风格:SMD/SMT
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