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参数资料
| 型号： | MC9S12D64MPV |
| 厂商： | FREESCALE SEMICONDUCTOR INC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 16-BIT, FLASH, 25 MHz, MICROCONTROLLER, PQFP112 |
| 封装： | LQFP-112 |
| 文件页数： | 6/128页 |
| 文件大小： | 1835K |
| 代理商： | MC9S12D64MPV |
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MC9S12DJ64 Device User Guide — V01.20
103
A.3.2 NVM Reliability
The reliability of the NVM blocks is guaranteed by stress test during qualification, constant process
monitors and burn-in to screen early life failures.
The failure rates for data retention and program/erase cycling are specified at the operating conditions
noted.
The program/erase cycle count on the sector is incremented every time a sector or mass erase event is
executed.
Table A-12 NVM Reliability Characteristics
Conditions are shown in Table A-4 unless otherwise noted
Num C
Rating
Symbol
Min
Typ
Max
Unit
1C
Data Retention at an average junction temperature of
TJavg = 85°C
1
NOTES:
1. Total time at the maximum guaranteed device operating temperature <= 1 year
tNVMRET
15
Years
2
C Flash number of Program/Erase cycles
nFLPE
10,000
Cycles
3C
EEPROM number of Program/Erase cycles
(–40
°C
≤ T
J ≤ 0°C)
nEEPE
10,000
Cycles
4C
EEPROM number of Program/Erase cycles
(0
°C < T
J ≤ 140°C)
nEEPE
100,000
Cycles
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