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参数资料
型号： MCF5282CVM80
厂商： FREESCALE SEMICONDUCTOR INC
元件分类： 微控制器/微处理器
英文描述： FLASH, 80 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PBGA256
封装： MAPBGA-256
文件页数： 226/786页
文件大小： 5976K
代理商： MCF5282CVM80
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MCF5282 External Signals
MCF5282 Coldfire Microcontroller Reference Manual, Rev. 2.2
Freescale Semiconductor
14-29
14.2.14 Debug Support Signals
These signals are used as the interface to the on-chip JTAG controller and also to interface to the BDM
logic.
14.2.14.1 JTAG_EN
This input signal is used to select between multiplexed debug module and JTAG signals at reset. If
JTAG_EN is low, the part is in normal and background debug mode (BDM); if it is high, it is in normal
and JTAG mode.
14.2.14.2 Development Serial Clock/Test Reset (DSCLK/TRST)
Debug mode operation: DSCLK is selected. DSCLK is the development serial clock for the serial interface
to the debug module. The maximum DSCLK frequency is 1/5 CLKIN.
JTAG mode operation: TRST is selected. TRST asynchronously resets the internal JTAG controller to the
test logic reset state, causing the JTAG instruction register to choose the bypass instruction. When this
occurs, JTAG logic is benign and does not interfere with normal MCF5282 functionality.
Although TRST is asynchronous, Freescale recommends that it makes an asserted-to-negated transition
only while TMS is held high. TRST has an internal pull-up resistor so if it is not driven low, it defaults to
a logic level of 1. If TRST is not used, it can be tied to ground or, if TCK is clocked, to VDD. Tying TRST
to ground places the JTAG controller in test logic reset state immediately. Tying it to VDD causes the JTAG
controller (if TMS is a logic level of 1) to eventually enter test logic reset state after 5 TCK clocks.
14.2.14.3 Breakpoint/Test Mode Select (BKPT/TMS)
Debug mode operation: If JTAG_EN is low, BKPT is selected. BKPT signals a hardware breakpoint to the
processor in debug mode.
JTAG mode operation: TMS is selected. The TMS input provides information to determine the JTAG test
operation mode. The state of TMS and the internal 16-state JTAG controller state machine at the rising
edge of TCK determine whether the JTAG controller holds its current state or advances to the next state.
This directly controls whether JTAG data or instruction operations occur. TMS has an internal pull-up
resistor so that if it is not driven low, it defaults to a logic level of 1. But if TMS is not used, it should be
tied to VDD.
14.2.14.4 Development Serial Input/Test Data (DSI/TDI)
Debug mode operation: If JTAG_EN is low, DSI is selected. DSI provides the single-bit communication
for debug module commands.
JTAG mode operation: TDI is selected. TDI provides the serial data port for loading the various JTAG
boundary scan, bypass, and instruction registers. Shifting in data depends on the state of the JTAG
controller state machine and the instruction in the instruction register. Shifts occur on the TCK rising edge.
TDI has an internal pull-up resistor, so when not driven low it defaults to high. But if TDI is not used, it
should be tied to VDD.
14.2.14.5 Development Serial Output/Test Data (DSO/TDO)
Debug mode operation: DSO is selected. DSO provides single-bit communication for debug module
responses.
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PDF描述
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参数描述
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MCF53011CQT240 功能描述:32位微控制器 - MCU LONGJING C&I CFV3 SECURI RoHS:否 制造商:Texas Instruments 核心:C28x 处理器系列:TMS320F28x 数据总线宽度:32 bit 最大时钟频率:90 MHz 程序存储器大小:64 KB 数据 RAM 大小:26 KB 片上 ADC:Yes 工作电源电压:2.97 V to 3.63 V 工作温度范围:- 40 C to + 105 C 封装 / 箱体:LQFP-80 安装风格:SMD/SMT
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