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参数资料
| 型号： | MCP3008-I/SL |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 39/40页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC ADC 10BIT 2.7V 8CH SPI 16SOIC |
| 标准包装： | 50 |
| 位数： | 10 |
| 采样率（每秒）： | 200k |
| 数据接口： | 串行，SPI? |
| 转换器数目： | 1 |
| 电压电源： | 单电源 |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 16-SOIC（0.154"，3.90mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 16-SOIC |
| 包装： | 管件 |
| 输入数目和类型： | 8 个单端，单极；4 个伪差分，单极 |
| 产品目录页面： | 672 (CN2011-ZH PDF) |
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MCP3004/3008
DS21295D-page 8
2008 Microchip Technology Inc.
Note:
Unless otherwise indicated, VDD = VREF = 5V, fCLK = 18* fSAMPLE, TA = +25°C.
FIGURE 2-7:
Integral Nonlinearity (INL)
vs. Temperature.
FIGURE 2-8:
Differential Nonlinearity
(DNL) vs. Sample Rate.
FIGURE 2-9:
Differential Nonlinearity
(DNL) vs. VREF.
FIGURE 2-10:
Integral Nonlinearity (INL)
vs. Temperature (VDD = 2.7V).
FIGURE 2-11:
Differential Nonlinearity
(DNL) vs. Sample Rate (VDD = 2.7V).
FIGURE 2-12:
Differential Nonlinearity
(DNL) vs. VREF (VDD = 2.7V).
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
0.4
0.6
-50
-25
0
25
50
75
100
Temperature (°C)
INL
(LSB)
Positive INL
Negative INL
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
0.4
0.6
0
25
50
75
100
125
150
175
200
225
250
Sample Rate (ksps)
DN
L
(
L
S
B
)
Positive DNL
Negative DNL
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
1.0
01
23
4
5
VREF (V)
DN
L
(LSB)
Negative DNL
Positive DNL
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
0.4
0.6
-50
-25
0
25
50
75
100
Temperature (°C)
IN
L
(L
S
B
)
Positive INL
VDD = VREF = 2.7 V
fSAMPLE = 75 ksps
Negative INL
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
0.4
0.6
025
50
75
100
Sample Rate (ksps)
DN
L
(LSB)
Positive DNL
Negative DNL
VDD = VREF = 2.7 V
-1.0
-0.8
-0.6
-0.4
-0.2
0.0
0.2
0.4
0.6
0.8
0.0
0.5
1.0
1.5
2.0
2.5
3.0
VREF(V)
DNL
(LSB)
Positive DNL
Negative DNL
VDD = VREF = 2.7 V
fSAMPLE = 75 ksps
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