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参数资料
| 型号： | MCP4725EV |
| 厂商： | Microchip Technology |
| 文件页数： | 9/50页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | BOARD EVAL FOR MCP4725 |
| 标准包装： | 1 |
| DAC 的数量： | 1 |
| 位数： | 12 |
| 采样率（每秒）： | 100k ~ 3.4M |
| 数据接口： | I²C |
| 设置时间： | 6µs |
| DAC 型： | 电压 |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 已供物品： | 2 板，CD |
| 已用 IC / 零件： | MCP4725 |
| 产品目录页面： | 673 (CN2011-ZH PDF) |
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2009 Microchip Technology Inc.
DS22039D-page 17
MCP4725
4.9
Offset Error Drift
Offset error drift is the variation in offset error due to a
change in ambient temperature. The offset error drift is
typically expressed in ppm/oC.
4.10
Settling Time
The Settling time is the time delay required for the DAC
output to settle to its new output value from the start of
code transition, within specified accuracy. In the
MCP4725, the settling time is a measure of the time
delay until the DAC output reaches its final value
(within 0.5 LSB) when the DAC code changes from
400h to C00h.
4.11
Major-Code Transition Glitch
Major-code transition glitch is the impulse energy
injected into the DAC analog output when the code in
the DAC register changes state. It is normally specified
as the area of the glitch in nV-Sec. and is measured
when the digital code is changed by 1 LSB at the major
carry transition (Example: 011...111 to 100... 000, or
100... 000 to 011 ... 111).
4.12
Digital Feedthrough
Digital feedthrough is the glitch that appears at the
analog output caused by coupling from the digital input
pins of the device. It is specified in nV-Sec. and is
measured with a full scale change on the digital input
pins (Example: 000... 000 to 111... 111, or 111... 111 to
000... 000). The digital feedthrough is measured when
the DAC is not being written to the register.
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| MCP4728EV | BOARD EVAL 12BIT 4CH DAC MCP4728 |
| EMM08DRXI | CONN EDGECARD 16POS DIP .156 SLD |
| 9337110001 | HEAT SHRINK SLEEVE |
| 8420630001 | HEAT SHRINK SLEEVE |
| REF192GSZ-REEL | IC VREF SERIES PREC 2.5V 8-SOIC |
相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| MCP4725T-E/CH | 功能描述:数模转换器- DAC SNGL 12B NV DAC with I2C interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 转换器数量:1 DAC 输出端数量:1 转换速率:2 MSPs 分辨率:16 bit 接口类型:QSPI, SPI, Serial (3-Wire, Microwire) 稳定时间:1 us 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOIC-14 封装:Tube |
| MCP4726A0T-E/CH | 功能描述:数模转换器- DAC Sngl 12B NV DAC w/Ex Vref & I2C interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 转换器数量:1 DAC 输出端数量:1 转换速率:2 MSPs 分辨率:16 bit 接口类型:QSPI, SPI, Serial (3-Wire, Microwire) 稳定时间:1 us 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOIC-14 封装:Tube |
| MCP4726A0T-E/MAY | 功能描述:数模转换器- DAC Sngl 12B NV DAC w/Ex Vref & I2C interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 转换器数量:1 DAC 输出端数量:1 转换速率:2 MSPs 分辨率:16 bit 接口类型:QSPI, SPI, Serial (3-Wire, Microwire) 稳定时间:1 us 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOIC-14 封装:Tube |
| MCP4726A1T-E/CH | 功能描述:数模转换器- DAC Sngl 12B NV DAC w/Ex Vref & I2C interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 转换器数量:1 DAC 输出端数量:1 转换速率:2 MSPs 分辨率:16 bit 接口类型:QSPI, SPI, Serial (3-Wire, Microwire) 稳定时间:1 us 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOIC-14 封装:Tube |
| MCP4726A1T-E/MAY | 功能描述:数模转换器- DAC Sngl 12B NV DAC w/Ex Vref & I2C interface RoHS:否 制造商:Texas Instruments 转换器数量:1 DAC 输出端数量:1 转换速率:2 MSPs 分辨率:16 bit 接口类型:QSPI, SPI, Serial (3-Wire, Microwire) 稳定时间:1 us 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOIC-14 封装:Tube |
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