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参数资料
| 型号： | MCZ33880EG |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 9/25页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SWITCH OCTAL SER I/O 28-SOIC |
| 标准包装： | 26 |
| 类型： | 高端/低端驱动器 |
| 输入类型： | SPI |
| 输出数： | 8 |
| 导通状态电阻： | 550 毫欧 |
| 电流 - 峰值输出： | 1.4A |
| 电源电压： | 5.5 V ~ 24.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 28-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 28-SOIC W |
| 包装： | 管件 |
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
TIMING DIAGRAMS
TIMING DIAGRAMS
CS
0.2 V DD
t LEAD
t LAG
SCLK
0.7 V DD
0.2 V DD
t DI(SU) t DI(HOLD)
DI
0.7 V DD
0.2 V DD
MSB in
t DO(EN)
t VALID
t DO(DIS)
DO
0.7 V DD
0.2 V DD
MSB out
LSB out
Figure 5. SPI Timing Diagram
V DD = 5.0 V
33880
V DD = 5.0 V
V PWR = 13 V
SCLK
Under
Test
DO
C L = 200 pF
CS
33880
Under
Test
R L = 620 Ω
Output
C L
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
Figure 6. Valid Data Delay Time
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
and Valid Time Test Circuit
Figure 8. Switching Time Test Circuit
V DD = 5.0 V
33880
V Pull-Up = 2.5 V
R L = 1.0 k Ω
CS
Under
DO
Test
C L = 200 pF
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
Figure 7. Enable and Disable Time Test Circuit
33880
Analog Integrated Circuit Device Data
Freescale Semiconductor
9
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