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参数资料
| 型号： | MCZ33880EW |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 9/25页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC SWITCH OCTAL SER I/O 32-SOIC |
| 标准包装： | 42 |
| 类型： | 高端/低端驱动器 |
| 输入类型： | SPI |
| 输出数： | 8 |
| 导通状态电阻： | 550 毫欧 |
| 电流 - 峰值输出： | 1.4A |
| 电源电压： | 5.5 V ~ 24.5 V |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 32-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 32-SOIC |
| 包装： | 管件 |
ELECTRICAL CHARACTERISTICS
TIMING DIAGRAMS
TIMING DIAGRAMS
CS
0.2 V DD
t LEAD
t LAG
SCLK
0.7 V DD
0.2 V DD
t DI(SU) t DI(HOLD)
DI
0.7 V DD
0.2 V DD
MSB in
t DO(EN)
t VALID
t DO(DIS)
DO
0.7 V DD
0.2 V DD
MSB out
LSB out
Figure 5. SPI Timing Diagram
V DD = 5.0 V
33880
V DD = 5.0 V
V PWR = 13 V
SCLK
Under
Test
DO
C L = 200 pF
CS
33880
Under
Test
R L = 620 Ω
Output
C L
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
Figure 6. Valid Data Delay Time
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
and Valid Time Test Circuit
Figure 8. Switching Time Test Circuit
V DD = 5.0 V
33880
V Pull-Up = 2.5 V
R L = 1.0 k Ω
CS
Under
DO
Test
C L = 200 pF
NOTE: C L represents the total capacitance of the test
fixture and probe.
Figure 7. Enable and Disable Time Test Circuit
33880
Analog Integrated Circuit Device Data
Freescale Semiconductor
9
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PDF描述 |
|---|---|
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| MCZ33883EG | 制造商:Freescale Semiconductor 功能描述:SEMICONDUCTOR |
| MCZ33883EGR2 | 功能描述:功率驱动器IC FULL BRIDGE GATE DRIVER RoHS:否 制造商:Micrel 产品:MOSFET Gate Drivers 类型:Low Cost High or Low Side MOSFET Driver 上升时间: 下降时间: 电源电压-最大:30 V 电源电压-最小:2.75 V 电源电流: 最大功率耗散: 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOIC-8 封装:Tube |
| MCZ33884EG | 功能描述:多路器开关 IC SW DETECT INTERFACE RoHS:否 制造商:Texas Instruments 通道数量:1 开关数量:4 开启电阻（最大值）:7 Ohms 开启时间（最大值）: 关闭时间（最大值）: 传播延迟时间:0.25 ns 工作电源电压:2.3 V to 3.6 V 工作电源电流: 最大工作温度:+ 85 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:UQFN-16 |
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