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参数资料
| 型号： | MPC5510DEMO |
| 厂商： | Freescale Semiconductor |
| 文件页数： | 17/54页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | KIT DEMO FOR MPC5510 |
| 标准包装： | 1 |
| 系列： | Qorivva |
| 类型： | MCU |
| 适用于相关产品： | MPC5510 |
| 所含物品： | 板 |
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MPC5510 Microcontroller Family Data Sheet, Rev. 3
Electrical Characteristics
Freescale Semiconductor
24
2.3
ESD Characteristics
Table 5. ESD Ratings1, 2
1 All ESD testing is in conformity with CDF-AEC-Q100 Stress Test Qualification for Automotive Grade Integrated Circuits.
2 A device will be defined as a failure if after exposure to ESD pulses the device no longer meets the device specification
requirements. Complete DC parametric and functional testing shall be performed per applicable device specification at room
temperature followed by hot temperature, unless specified otherwise in the device specification
Characteristic
Symbol
Value
Unit
ESD for Human Body Model (HBM)
2000
V
HBM Circuit Description
R1
1500
Ohm
C100
pF
ESD for Field Induced Charge Model (FDCM)
500 (all pins)
V
750 (corner pins)
Number of Pulses per pin:
Positive Pulses (HBM)
Negative Pulses (HBM)
—
1
—
Interval of Pulses
—
1
second
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