收藏本站
参数资料
型号： MPX2102DP
厂商： Motorola, Inc.
元件分类： 压力传感器
英文描述： Sensor
中文描述： 传感器
文件页数： 20/670页
文件大小： 6375K
代理商： MPX2102DP
第1页第2页第3页第4页第5页第6页第7页第8页第9页第10页第11页第12页第13页第14页第15页第16页第17页第18页第19页当前第20页第21页第22页第23页第24页第25页第26页第27页第28页第29页第30页第31页第32页第33页第34页第35页第36页第37页第38页第39页第40页第41页第42页第43页第44页第45页第46页第47页第48页第49页第50页第51页第52页第53页第54页第55页第56页第57页第58页第59页第60页第61页第62页第63页第64页第65页第66页第67页第68页第69页第70页第71页第72页第73页第74页第75页第76页第77页第78页第79页第80页第81页第82页第83页第84页第85页第86页第87页第88页第89页第90页第91页第92页第93页第94页第95页第96页第97页第98页第99页第100页第101页第102页第103页第104页第105页第106页第107页第108页第109页第110页第111页第112页第113页第114页第115页第116页第117页第118页第119页第120页第121页第122页第123页第124页第125页第126页第127页第128页第129页第130页第131页第132页第133页第134页第135页第136页第137页第138页第139页第140页第141页第142页第143页第144页第145页第146页第147页第148页第149页第150页第151页第152页第153页第154页第155页第156页第157页第158页第159页第160页第161页第162页第163页第164页第165页第166页第167页第168页第169页第170页第171页第172页第173页第174页第175页第176页第177页第178页第179页第180页第181页第182页第183页第184页第185页第186页第187页第188页第189页第190页第191页第192页第193页第194页第195页第196页第197页第198页第199页第200页第201页第202页第203页第204页第205页第206页第207页第208页第209页第210页第211页第212页第213页第214页第215页第216页第217页第218页第219页第220页第221页第222页第223页第224页第225页第226页第227页第228页第229页第230页第231页第232页第233页第234页第235页第236页第237页第238页第239页第240页第241页第242页第243页第244页第245页第246页第247页第248页第249页第250页第251页第252页第253页第254页第255页第256页第257页第258页第259页第260页第261页第262页第263页第264页第265页第266页第267页第268页第269页第270页第271页第272页第273页第274页第275页第276页第277页第278页第279页第280页第281页第282页第283页第284页第285页第286页第287页第288页第289页第290页第291页第292页第293页第294页第295页第296页第297页第298页第299页第300页第301页第302页第303页第304页第305页第306页第307页第308页第309页第310页第311页第312页第313页第314页第315页第316页第317页第318页第319页第320页第321页第322页第323页第324页第325页第326页第327页第328页第329页第330页第331页第332页第333页第334页第335页第336页第337页第338页第339页第340页第341页第342页第343页第344页第345页第346页第347页第348页第349页第350页第351页第352页第353页第354页第355页第356页第357页第358页第359页第360页第361页第362页第363页第364页第365页第366页第367页第368页第369页第370页第371页第372页第373页第374页第375页第376页第377页第378页第379页第380页第381页第382页第383页第384页第385页第386页第387页第388页第389页第390页第391页第392页第393页第394页第395页第396页第397页第398页第399页第400页第401页第402页第403页第404页第405页第406页第407页第408页第409页第410页第411页第412页第413页第414页第415页第416页第417页第418页第419页第420页第421页第422页第423页第424页第425页第426页第427页第428页第429页第430页第431页第432页第433页第434页第435页第436页第437页第438页第439页第440页第441页第442页第443页第444页第445页第446页第447页第448页第449页第450页第451页第452页第453页第454页第455页第456页第457页第458页第459页第460页第461页第462页第463页第464页第465页第466页第467页第468页第469页第470页第471页第472页第473页第474页第475页第476页第477页第478页第479页第480页第481页第482页第483页第484页第485页第486页第487页第488页第489页第490页第491页第492页第493页第494页第495页第496页第497页第498页第499页第500页第501页第502页第503页第504页第505页第506页第507页第508页第509页第510页第511页第512页第513页第514页第515页第516页第517页第518页第519页第520页第521页第522页第523页第524页第525页第526页第527页第528页第529页第530页第531页第532页第533页第534页第535页第536页第537页第538页第539页第540页第541页第542页第543页第544页第545页第546页第547页第548页第549页第550页第551页第552页第553页第554页第555页第556页第557页第558页第559页第560页第561页第562页第563页第564页第565页第566页第567页第568页第569页第570页第571页第572页第573页第574页第575页第576页第577页第578页第579页第580页第581页第582页第583页第584页第585页第586页第587页第588页第589页第590页第591页第592页第593页第594页第595页第596页第597页第598页第599页第600页第601页第602页第603页第604页第605页第606页第607页第608页第609页第610页第611页第612页第613页第614页第615页第616页第617页第618页第619页第620页第621页第622页第623页第624页第625页第626页第627页第628页第629页第630页第631页第632页第633页第634页第635页第636页第637页第638页第639页第640页第641页第642页第643页第644页第645页第646页第647页第648页第649页第650页第651页第652页第653页第654页第655页第656页第657页第658页第659页第660页第661页第662页第663页第664页第665页第666页第667页第668页第669页第670页
1–14
Motorola Sensor Device Data
For More Information On This Product,
Go to: www.freescale.com
Figure 2. Impact of Assignable Causes on
Process Predictable
Figure 3. Difference Between Process
Control and Process Capability
Process “under control” – all assignable causes are
removed and future distribution is predictable.
PREDICTION
TIME
SIZE
SIZE
TIME
PREDICTION
SIZE
TIME
Out of control
(assignable causes present)
In control assignable
causes eliminated
SIZE
TIME
In control but not capable
(variation from random variability
excessive)
Lower
Specification Limit
Upper
Specification Limit
In control and capable
(variation from random
variability reduced)
At Motorola, for critical parameters, the process capability
is acceptable with a Cpk = 1.33. The desired process
capability is a Cpk = 2 and the ideal is a Cpk = 5. Cpk, by
definition, shows where the current production process fits
with relationship to the specification limits. Off center
distributions or excessive process variability will result in less
than optimum conditions
SPC IMPLEMENTATION AND USE
DMTG uses many parameters that show conformance to
specification. Some parameters are sensitive to process
variations while others remain constant for a given product
line. Often, specific parameters are influenced when
changes to other parameters occur. It is both impractical and
unnecessary to monitor all parameters using SPC methods.
Only critical parameters that are sensitive to process
variability are chosen for SPC monitoring. The process steps
affecting these critical parameters must be identified also. It
is equally important to find a measurement in these process
steps that correlates with product performance. This is
called a critical process parameter.
Once the critical process parameters are selected, a
sample plan must be determined. The samples used for
measurement are organized into
RATIONAL SUBGROUPS
of approximately 2 to 5 pieces. The subgroup size should be
such that variation among the samples within the subgroup
remain small. All samples must come from the same source
e.g., the same mold press operator, etc.. Subgroup data
should be collected at appropriate time intervals to detect
variations in the process. As the process begins to show
improved stability, the interval may be increased. The data
collected must be carefully documented and maintained for
later correlation. Examples of common documentation
entries would include operator, machine, time, settings,
product type, etc.
Once the plan is established, data collection may begin.
The data collected will generate X and R values that are
plotted with respect to time. X refers to the mean of the
values within a given subgroup, while R is the range or
greatest value minus least value. When approximately 20 or
more X and R values have been generated, the average of
these values is computed as follows:
X
R= (R1 + R2 + R3 + ...)/K
X
X
X
= (
+
2 +
3+ ...)/K
where K = the number of subgroups measured.
The values of X and R are used to create the process
control chart. Control charts are the primary SPC tool used
to signal a problem. Shown in Figure 4, process control
charts show X and R values with respect to time and
concerning reference to upper and lower control limit values.
Control limits are computed as follows:
R upper control limit
UCLR
LCLR
UCLX
LCLX
D4 R
R lower control limit
D3 R
X upper control limit
X
A2 R
X lower control limit
X
A2 R
F
Freescale Semiconductor, Inc.
n
.
相关PDF资料
PDF描述
MPX2102GP Sensor
MPX2102GSX Sensor
MPX2102GVP Sensor
MPX2202A Sensor
MPX2202AP Sensor
相关代理商/技术参数
参数描述
MPX2102GP 功能描述:板上安装压力/力传感器 UNIBODY COMPENSATED RoHS:否 制造商:Honeywell 工作压力:0 bar to 4 bar 压力类型:Gage 准确性:+ / - 0.25 % 输出类型:Digital 安装风格:Through Hole 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:SIP 端口类型:Dual Radial Barbed, Same sides
MPX2102GSX 制造商:MOTOROLA 制造商全称:Motorola, Inc 功能描述:Sensor
MPX2102GVP 功能描述:板上安装压力/力传感器 UNIBODY COMPENSATED RoHS:否 制造商:Honeywell 工作压力:0 bar to 4 bar 压力类型:Gage 准确性:+ / - 0.25 % 输出类型:Digital 安装风格:Through Hole 工作电源电压:5 V 封装 / 箱体:SIP 端口类型:Dual Radial Barbed, Same sides
MPX-2103 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:Ultra-Fast-Recovery Rectifier Diodes
MPX21W1100FA00MB00 功能描述:薄膜电容器 MP 3-X2 1000 pF 275 VAC 4x8.5x13.5 F PCM10 RoHS:否 制造商:Cornell Dubilier 产品类型: 电介质:Polyester 电容:0.047 uF 容差:10 % 电压额定值:100 V 系列:225P 工作温度范围:- 55 C to + 85 C 端接类型:Radial 引线间隔:9.5 mm
发布紧急采购，3分钟左右您将得到回复。

采购需求

(若只采购一条型号，填写一行即可)

发布成功！您可以继续发布采购。也可以进入我的后台，查看报价

发布成功！您可以继续发布采购。也可以进入我的后台，查看报价

*型号 *数量 厂商 批号 封装
添加更多采购

我的联系方式

*
*
*