参数资料
型号: MSP430F2370IRHAT
厂商: Texas Instruments
文件页数: 35/65页
文件大小: 0K
描述: IC MCU 16BIT 32K FLASH 40-QFN
产品培训模块: The Ultra-Low Power MSP430
MSP430 Overview
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MSP430x2xx/4xx and Wireless Overview
Portable Medical Solutions with MSP430
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MSP430: How to JTAG
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Grace Software Graphical User Interface
MCU Overview
Driver Library
MSP430Ware Overview
标准包装: 1
系列: MSP430F2xx
核心处理器: RISC
芯体尺寸: 16-位
速度: 16MHz
连通性: I²C,IrDA,LIN,SCI,SPI,UART/USART
外围设备: 欠压检测/复位,POR,PWM,WDT
输入/输出数: 32
程序存储器容量: 32KB(32K x 8 + 256B)
程序存储器类型: 闪存
RAM 容量: 2K x 8
电压 - 电源 (Vcc/Vdd): 1.8 V ~ 3.6 V
数据转换器: 斜率 A/D
振荡器型: 内部
工作温度: -40°C ~ 85°C
封装/外壳: 40-VFQFN 裸露焊盘
包装: 标准包装
产品目录页面: 712 (CN2011-ZH PDF)
其它名称: 296-21750-6
MSP430F23x0
SLAS518E
– AUGUST 2006 – REVISED AUGUST 2011
Comparator_A+
(1)
over recommended operating free-air temperature range (unless otherwise noted)
PARAMETER
TEST CONDITIONS
VCC
MIN
TYP
MAX
UNIT
2.2 V
25
40
I(DD)
CAON = 1, CARSEL = 0, CAREF = 0
A
3 V
45
60
2.2 V
30
50
CAON = 1, CARSEL = 0, CAREF = 1/2/3,
I(Refladder/RefDiode)
A
No load at P2.3/CA0 and P2.4/CA1
3 V
45
71
Common-mode input voltage
VIC
CAON = 1
2.2 V/3 V
0
VCC - 1
V
range
Voltage at 0.25 VCC node /
PCA0 = 1, CARSEL = 1, CAREF = 1,
V(Ref025)
2.2 V/3 V
0.23
0.24
0.25
VCC
No load at P2.3/CA0 and P2.4/CA1
Voltage at 0.5 VCC node /
PCA0 = 1, CARSEL = 1, CAREF = 2,
V(Ref050)
2.2 V/3 V
0.47
0.48
0.5
VCC
No load at P2.3/CA0 and P2.4/CA1
PCA0 = 1, CARSEL = 1, CAREF = 3,
2.2 V
390
480
540
V(RefVT)
No load at P2.3/CA0 and P2.4/CA1,
mV
3 V
400
490
550
TA = 85°C
V(offset)
Offset voltage(2)
2.2 V/3 V
-30
30
mV
Vhys
Input hysteresis
CAON = 1
2.2 V/3 V
0
0.7
1.4
mV
TA = 25°C, Overdrive 10 mV,
2.2 V
80
165
300
Without filter: CAF = 0(3)
ns
3 V
70
120
240
Response time
t(response)
(low-high and high-low)
TA = 25°C, Overdrive 10 mV,
2.2 V
1.4
1.9
2.8
With filter: CAF = 1(3)
s
3 V
0.9
1.5
2.2
(1)
The leakage current for the Comparator_A+ terminals is identical to Ilkg(Px.y) specification.
(2)
The input offset voltage can be cancelled by using the CAEX bit to invert the Comparator_A+ inputs on successive measurements. The
two successive measurements are then summed together.
(3)
Response time measured at P2.2/CAOUT/TA0/CA4.
40
Copyright
2006–2011, Texas Instruments Incorporated
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