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参数资料
| 型号： | MSP430G2333IPW20 |
| 厂商： | TEXAS INSTRUMENTS INC |
| 元件分类： | 微控制器/微处理器 |
| 英文描述： | 16-BIT, FLASH, 16 MHz, RISC MICROCONTROLLER, PDSO20 |
| 封装： | GREEN, PLASTIC, TSSOP-20 |
| 文件页数： | 45/63页 |
| 文件大小： | 831K |
| 代理商： | MSP430G2333IPW20 |
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MSP430G2x33
MSP430G2x03
SLAS734C
– APRIL 2011 – REVISED AUGUST 2011
Table 2. Terminal Functions
TERMINAL
NO.
I/O
DESCRIPTION
NAME
PW20,
PW28
RHB32
N20
P1.0/
General-purpose digital I/O pin
TA0CLK/
Timer0_A, clock signal TACLK input
2
31
I/O
ACLK/
ACLK signal output
A0
ADC10 analog input A0(1)
P1.1/
General-purpose digital I/O pin
TA0.0/
Timer0_A, capture: CCI0A input, compare: Out0 output / BSL transmit
UCA0RXD/
3
1
I/O
USCI_A0 receive data input in UART mode
UCA0SOMI/
USCI_A0 slave data out/master in SPI mode
A1
ADC10 analog input A1(1)
P1.2/
General-purpose digital I/O pin
TA0.1/
Timer0_A, capture: CCI1A input, compare: Out1 output
UCA0TXD/
4
2
I/O
USCI_A0 transmit data output in UART mode
UCA0SIMO/
USCI_A0 slave data in/master out in SPI mode
A2
ADC10 analog input A2(1)
P1.3/
General-purpose digital I/O pin
ADC10CLK/
ADC10, conversion clock output(1)
5
3
I/O
A3/
ADC10 analog input A3(1)
VREF-/VEREF-
ADC10 negative reference voltage (1)
P1.4/
General-purpose digital I/O pin
SMCLK/
SMCLK signal output
UCB0STE/
USCI_B0 slave transmit enable
UCA0CLK/
6
4
I/O
USCI_A0 clock input/output
A4/
ADC10 analog input A4(1)
VREF+/VEREF+
ADC10 positive reference voltage(1)
TCK
JTAG test clock, input terminal for device programming and test
P1.5/
General-purpose digital I/O pin
TA0.0/
Timer0_A, compare: Out0 output / BSL receive
UCB0CLK/
USCI_B0 clock input/output
7
5
I/O
UCA0STE/
USCI_A0 slave transmit enable
A5/
ADC10 analog input A5(1)
TMS
JTAG test mode select, input terminal for device programming and test
P1.6/
General-purpose digital I/O pin
TA0.1/
Timer0_A, compare: Out1 output
A6/
ADC10 analog input A6(1)
14
22
21
I/O
UCB0SOMI/
USCI_B0 slave out/master in SPI mode,
UCB0SCL/
USCI_B0 SCL I2C clock in I2C mode
TDI/TCLK
JTAG test data input or test clock input during programming and test
P1.7/
General-purpose digital I/O pin
A7/
ADC10 analog input A7(1)
UCB0SIMO/
USCI_B0 slave in/master out in SPI mode
15
23
22
I/O
UCB0SDA/
USCI_B0 SDA I2C data in I2C mode
TDO/TDI
JTAG test data output terminal or test data input during programming and
test(2)
(1)
MSP430G2x33 devices only
(2)
TDO or TDI is selected via JTAG instruction.
Copyright
2011, Texas Instruments Incorporated
5
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