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参数资料
| 型号： | N74F1804D,602 |
| 厂商： | NXP Semiconductors |
| 文件页数： | 4/8页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC GATE NAND HEX 2INPUT 20SOICW |
| 标准包装： | 38 |
| 系列： | 74F |
| 逻辑类型： | 与非门 |
| 电路数： | 6 |
| 输入数： | 2 |
| 电源电压： | 4.5 V ~ 5.5 V |
| 输出电流高，低： | 48mA，48mA |
| 逻辑电平 - 低： | 0.8V |
| 逻辑电平 - 高： | 2V |
| 额定电压和最大 CL 时的最大传播延迟： | 4.5ns @ 5V，50pF |
| 工作温度： | 0°C ~ 70°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 供应商设备封装： | 20-SO |
| 封装/外壳： | 20-SOIC（0.295"，7.50mm 宽） |
| 包装： | 管件 |
| 其它名称： | 568-3168-5 933952250602 N74F1804D |
Philips Semiconductors
Product specification
74F804/1804
Hex 2-input NAND drivers
September 14, 1990
4
RECOMMENDED OPERATING CONDITIONS
SYMBOL
PARAMETER
LIMITS
TA =
–40 to
+85
°C
UNIT
MIN
NOM
MAX
VCC
Supply voltage
4.5
5.0
5.5
V
VIH
High–level input voltage
2.0
V
VIL
Low–level input voltage
0.8
V
IIk
Input clamp current
–18
mA
IOH
High–level output current
–48
mA
IOL
Low–level output current
48
mA
Tamb
Operating free air temperature range
0
+70
°C
DC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
(Over recommended operating free-air temperature range unless otherwise noted.)
SYMBOL
PARAMETER
TEST CONDITIONS1
LIMITS
UNIT
MIN
TYP2
MAX
VOH
High-level output voltage
VCC = MIN, VIL = MAX
±10%V
CC
2.0
V
VIH = MIN, IOH = MAX
±5%V
CC
2.0
V
VOL
Low-level output voltage
VCC = MIN, VIL = MAX
±10%V
CC
0.38
0.55
V
VIH = MIN, IOL = MAX
±5%V
CC
0.38
0.55
V
VIK
Input clamp voltage
VCC = MIN, II = IIK
-0.73
-1.2
V
II
Input current at maximum input voltage
VCC = MAX, VI = 7.0V
100
A
IIH
High–level input current
VCC = MAX, VI = 2.7V
20
A
IIL
Low–level input current
VCC = MAX, VI = 0.5V
-20
A
IO
Output current3
VCC = MAX
-60
-160
mA
ICC
Supply current (total)
ICCH
VCC = MAX
VIN = GND
2.0
3.0
mA
ICCL
VCC = MAX
VIN = 4.5V
15
20
mA
NOTES:
1. For conditions shown as MIN or MAX, use the appropriate value specified under recommended operating conditions for the applicable type.
2. All typical values are at VCC = 5V, Tamb = 25°C.
3. The output conditions have been chosen to produce a current that closely approximates one half of the true short–circuit output current, IOS.
AC ELECTRICAL CHARACTERISTICS
LIMITS
Tamb = +25°C
Tamb = 0°C to +70°C
SYMBOL
PARAMETER
TEST
VCC = +5.0V
VCC = +5.0V ± 10%
UNIT
CONDITION
CL = 50pF,
RL = 500
CL = 50pF,
RL = 500
MIN
TYP
MAX
MIN
MAX
tPLH
tPHL
Propagation delay
Dna, Dnb to Qn
Waveform 1
1.0
2.0
3.0
4.0
4.5
1.0
4.0
5.0
ns
tsk(o)
Output skew1,2
Waveform 2
1.5
ns
NOTES:
1. [tPN actual – tPM actual] for any output compared to any other output where N and M are either LH or HL.
2. Skew times are valid only under same test conditions (temperature, VCC, loading, etc.,).
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PDF描述 |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
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| N74F1804DB | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:Hex 2-input NAND Gate |
| N74F1804D-T | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:Hex 2-input NAND Gate |
| N74F1804N | 制造商:PHILIPS 制造商全称:NXP Semiconductors 功能描述:Hex 2-input NAND drivers |
| N74F1804N,602 | 功能描述:逻辑门 HEX 2-INPUT NAND DRIVER RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量（输入/输出）:2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel |
| N74F1804N-B | 制造商:未知厂家 制造商全称:未知厂家 功能描述:Hex 2-input NAND Gate |
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