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参数资料
| 型号： | NC7WZ32L8X |
| 厂商： | Fairchild Semiconductor |
| 文件页数： | 3/5页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC GATE OR UHS DUAL 2INP 8MCRPAK |
| 产品变化通告： | Die Material, Mold Compound Change 03/Oct/2008 |
| 标准包装： | 5,000 |
| 系列： | 7WZ |
| 逻辑类型： | 或门 |
| 电路数： | 2 |
| 输入数： | 2 |
| 电源电压： | 1.65 V ~ 5.5 V |
| 电流 - 静态（最大值）： | 1µA |
| 输出电流高，低： | 32mA，32mA |
| 额定电压和最大 CL 时的最大传播延迟： | 3.7ns @ 5V，50pF |
| 工作温度： | -40°C ~ 85°C |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 供应商设备封装： | 8-MicroPak? |
| 封装/外壳： | 8-XFQFN |
| 包装： | 带卷 (TR) |
3
www.fairchildsemi.com
NC7WZ32
AC Electrical Characteristics
Note 3: CPD is defined as the value of the internal equivalent capacitance which is derived from dynamic operating current consumption (ICCD) at no output
loading and operating at 50% duty cycle. (See Figure 2.) CPD is related to ICCD dynamic operating current by the expression:
ICCD = (CPD) (VCC) (fIN) + (ICCstatic).
AC Loading and Waveforms
CL includes load and stray capacitance.
Input PRR
= 1.0 MHz, t
w = 500 ns.
FIGURE 1. AC Test Circuit
Input
= AC Waveforms; t
r = tf = 1.8 ns;
PRR
= 10 MHz; Duty Cycle = 50%
FIGURE 2. ICCD Test Circuit
FIGURE 3. AC Waveforms
Symbol
Parameter
VCC
TA = +25°CTA = 40°C to +85°C
Units
Conditions
Figure
(V)
Min
Typ
Max
Min
Max
Number
tPLH,
Propagation Delay
1.8
± 0.15
2.0
5.8
10.5
2.0
11.0
ns
tPHL
2.5
± 0.2
1.0
3.5
5.8
1.0
6.2
CL = 15 pF,
Figures
1, 3
3.3
± 0.3
0.8
2.6
3.9
0.8
4.3
RL = 1M
5.0
± 0.5
0.5
1.8
3.1
0.5
3.3
tPLH,
Propagation Delay
3.3
± 0.3
1.2
3.2
4.8
1.2
5.2
ns
CL = 50 pF,
Figures
1, 3
tPHL
5.0
± 0.5
0.8
2.4
3.7
0.8
4.0
RL = 500
CIN
Input Capacitance
0
2.5
pF
CPD
Power Dissipation
3.3
14
pF
(Note 3)
Figure 2
Capacitance
5.0
18
相关PDF资料 |
PDF描述 |
|---|---|
| NC7WZ38L8X | IC GATE NAND UHS DUAL 2IN 8MPAK |
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相关代理商/技术参数 |
参数描述 |
|---|---|
| NC7WZ38 | 制造商:FAIRCHILD 制造商全称:Fairchild Semiconductor 功能描述:TinyLogic UHS Dual 2-Input NAND Gate (Open Drain Output) |
| NC7WZ38_05 | 制造商:FAIRCHILD 制造商全称:Fairchild Semiconductor 功能描述:TinyLogic UHS Dual 2-Input NAND Gate (Open Drain Output) |
| NC7WZ38K8X | 功能描述:逻辑门 UHS 2-Inp NAND Gate RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量（输入/输出）:2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel |
| NC7WZ38K8X_Q | 功能描述:逻辑门 UHS 2-Inp NAND Gate RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量（输入/输出）:2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel |
| NC7WZ38L8X | 功能描述:逻辑门 UHS Dual 2-Input NAND Gate (Open RoHS:否 制造商:Texas Instruments 产品:OR 逻辑系列:LVC 栅极数量:2 线路数量（输入/输出）:2 / 1 高电平输出电流:- 16 mA 低电平输出电流:16 mA 传播延迟时间:3.8 ns 电源电压-最大:5.5 V 电源电压-最小:1.65 V 最大工作温度:+ 125 C 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:DCU-8 封装:Reel |
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