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参数资料
| 型号： | NCP5008DMR2G |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 4/17页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC CONV BOOST BKLGHT LED 10MICRO |
| 产品变化通告： | Product Obsolescence 01/Jul/2009 |
| 标准包装： | 1 |
| 拓扑： | PWM，升压（升压） |
| 输出数： | 1 |
| 内部驱动器： | 是 |
| 类型 - 主要： | 背光 |
| 类型 - 次要： | 白色 LED |
| 频率： | 5MHz |
| 电源电压： | 2.7 V ~ 6 V |
| 输出电压： | 15V |
| 安装类型： | 表面贴装 |
| 封装/外壳： | 10-TFSOP，10-MSOP（0.118"，3.00mm 宽） |
| 供应商设备封装： | 10-微型 |
| 包装： | 剪切带 (CT) |
| 工作温度： | -25°C ~ 85°C |
| 其它名称： | NCP5008DMR2GOSCT |
NCP5008, NCP5009
Table 1. Shift Register Bits Assignment and Functions
SetReg shift register (Note: The register content is latched upon CS positive going).
B7
B6
B5
B4
B3
B2
B1
Bn Value After POR
Iout Peak (mA)
0
I ref *k*7.5
0
I ref *k*6.5
0
I ref *k*5.5
0
I ref *k*4.5
0
I ref *k*3.5
0
I ref *k*2.5
0
I ref *k*1.5
LOCAL
L
L
H or Open
H or Open
H or Open
CLOCK
X
X
X
↓
↑
CS
H
L
H
L
L
B1?B7
X
X
No Change
No Change
Q data → Bn
Output Current
0
I ref * k
I ref * k * (Bn + 0.5)
I ref * k * (Bn + 0.5)
I ref * k * (Bn + 0.5)
Iref + ref + 1.24 V
The register is clear to 0 during the first 20 ns following the CS falling edge.
Note:
Coefficient Value (internal ratio): k = 746
Maximum output peak current @ B7 = 1 and Iphoto = 0 m A : Iout peak = I ref * (7 + 0.5) * 746 = I ref * 5595
V
R1 R1
MAXIMUM RATINGS
Rating
Power Supply
Output Power Supply Voltage Compliance
Digital Input Voltage
Digital Input Current
Human Body Model: R = 1500 W , C = 100 pF
Machine Model
Micro 10 Package
Power Dissipation @ T A = +85 ° C
Thermal Resistance, Junction?to?Air
Operating Ambient Temperature Range
Operating Junction Temperature Range
Maximum Junction Temperature
Storage Temperature Range
Symbol
V bat , V BIAS
V L2
CLK, CS
ESD
ESD
P D
R Thja
T A
T J
T Jmax
T stg
Value
7.0
16
?0.3 t V t V bat + 3.0 V
1.0
" 2.0
" 200
200
200
?25 to +85
?25 to +125
+150
?65 to +150
Unit
V
V
V
mA
kV
V
mW
° C/W
° C
° C
° C
° C
Stresses exceeding Maximum Ratings may damage the device. Maximum Ratings are stress ratings only. Functional operation above the
Recommended Operating Conditions is not implied. Extended exposure to stresses above the Recommended Operating Conditions may affect
device reliability.
http://onsemi.com
4
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