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参数资料
| 型号： | NCV7815BTG |
| 厂商： | ON Semiconductor |
| 文件页数： | 11/30页 |
| 文件大小： | 0K |
| 描述： | IC REG LDO 15V 1A TO220AB |
| 标准包装： | 50 |
| 稳压器拓扑结构： | 正，固定式 |
| 输出电压： | 15V |
| 输入电压： | 最高 35V |
| 电压 - 压降（标准）： | 2V @ 1A |
| 稳压器数量： | 1 |
| 电流 - 输出： | 1A |
| 工作温度： | -40°C ~ 125°C |
| 安装类型： | 通孔 |
| 封装/外壳： | TO-220-3 |
| 供应商设备封装： | TO-220AB |
| 包装： | 管件 |
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MC7800, MC7800A, MC7800AE, NCV7800
ELECTRICAL CHARACTERISTICS (V in = 19 V, I O = 500 mA, T J = T low to 125 ? C (Note 17), unless otherwise noted)
MC7812B/NCV7812B
MC7812C
Characteristic
Output Voltage (T J = 25 ? C)
Output Voltage (5.0 mA ? I O ? 1.0 A, P D ? 15 W)
14.5 Vdc ? V in ? 27 Vdc
15.5 Vdc ? V in ? 27 Vdc
Line Regulation, T J = 25 ? C (Note 18)
14.5 Vdc ? V in ? 30 Vdc
16 Vdc ? V in ? 22 Vdc
14.8 Vdc ? V in ? 27 Vdc, I O = 1.0 A
Load Regulation, T J = 25 ? C (Note 18)
5.0 mA ? I O ? 1.5 A
Quiescent Current
Quiescent Current Change
14.5 Vdc ? V in ? 30 Vdc, I O = 1.0 A, T J = 25 ? C
15 Vdc ? V in ? 30 Vdc
5.0 mA ? I O ? 1.0 A
Ripple Rejection
15 Vdc ? V in ? 25 Vdc, f = 120 Hz
Dropout Voltage (I O = 1.0 A, T J = 25 ? C)
Output Noise Voltage (T A = 25 ? C)
10 Hz ? f ? 100 kHz
Output Resistance f = 1.0 kHz
Short Circuit Current Limit (T A = 25 ? C)
V in = 35 Vdc
Peak Output Current (T J = 25 ? C)
Average Temperature Coefficient of Output Voltage
Symbol
V O
V O
Reg line
Reg load
I B
D I B
RR
V I ? V O
V n
r O
I SC
I max
TCV O
Min
11.5
?
11.4
?
?
?
?
?
?
?
?
?
?
?
?
?
?
?
Typ
12
?
12
7.5
2.2
?
1.6
3.4
?
?
?
60
2.0
10
1.1
0.2
2.2
? 0.8
Max
12.5
?
12.6
240
120
?
240
8.0
?
1.0
0.5
?
?
?
?
?
?
?
Min
11.5
11.4
?
?
?
?
?
?
?
?
?
55
?
?
?
?
?
?
Typ
12
12
?
3.8
0.3
?
8.1
3.4
?
?
?
60
2.0
10
1.1
0.2
2.2
? 0.8
Max
12.5
12.6
?
24
24
48
60
6.5
0.7
0.8
0.5
?
?
?
?
?
?
?
Unit
Vdc
Vdc
mV
mV
mA
mA
dB
Vdc
m V/V O
m W
A
A
mV/ ? C
17. T low = 0 ? C for MC78XXC, MC78XXAC,
= * 40 ? C for NCV78XX, MC78XXB, MC78XXAB, and MC78XXAEB
18. Load and line regulation are specified at constant junction temperature. Changes in V O due to heating effects must be taken into account
separately. Pulse testing with low duty cycle is used.
http://onsemi.com
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